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J-GLOBAL ID：200903010344508560

質量分析方法およびその装置

Inventor：
吉成 清美

About 吉成 清美

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小瀬 洋一

About 小瀬 洋一

, 
加藤 義昭

About 加藤 義昭


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (1)： 武 顕次郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995087071
Publication number (International publication number)：1996287866
Application date： Apr. 12, 1995
Publication date： Nov. 01, 1996
Summary：
【要約】【目的】 補助電圧と高周波電圧の振幅比と高周波電圧振幅の走査速度を制御することにより、高速・高分解能のイオントラップ型質量分析装置を提供する。【構成】 イオントラップは、リング電極6と、それを挟むように向い合わせて配置された二つのエンドキャップ電極7及び8から構成される。試料源1から試料導入部2を通って、電極間空間に注入される質量分析対象の試料は、イオン生成用電子銃5からエンド キャップ電極7の中心口12を通って電極間空間に入射してきた電子と衝突してイオン化される。運転用主電源4により、エンドキャップ電極7及び8とリング電極6間に供給される直流電圧Uと高周波電圧VcosΩt によって電極間空間15に四重極電界が生成される。検出対象イオンを共鳴して出射させるために、四重極電界とは別の、微小電界を生成させる電圧を補助電圧電源11によりエンドキャップ電極間に印加し、制御部3が共鳴電圧と高周波電圧との振幅比の調整、質量走査速度を決定して検出対象の各イオンの必要分解能に応じて検出口13からイオンを出射させる。
Claim (excerpt)：
環状のリング電極とそれを挟むように向い合わせて配置した2つのエンドキャップ電極との間に直流電圧と高周波電圧のうち少なくとも高周波電圧を主電源から印加することにより電極間空間につくられる四重極電界中に安定に捕捉されたイオンを電極間空間から出射させてイオンの質量を検出する質量分析方法において、前記エンドキャップ電極に印加して補助交流電界を生成する補助交流電圧と前記高周波電圧との振幅比を検出対象イオンの質量分析に必要な分解能に応じて変化させて前記イオンを出射させることを特徴とする質量分析方法。
IPC (2)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62
FI (2)：
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 L
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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