Pat
J-GLOBAL ID：200903010450635058
セルの特性推定用パラメータのキャラクタライズ方法、並びにセルの出力信号波形推定方法及びセルの遅延時間計算方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
前田 弘 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996285415
Publication number (International publication number)：1998134096
Application date： Oct. 28, 1996
Publication date： May. 22, 1998
Summary：
【要約】【課題】 セルの出力信号波形や遅延時間を精度良く求めることが可能になる、セルの特性推定用パラメータを求める方法を提供する。【解決手段】 セルを、入力信号波形の傾き及び負荷容量の容量値を変数とするモデル式によって抵抗値が表される可変抵抗12,13、定電圧源11、内部容量14,15からなる回路モデル10に置き換える。セルに対するシミュレーションの結果から前記モデル式の係数を求め、この係数を前記モデル式に代入して得られた可変抵抗12,13の抵抗値を表す関数を前記セルの特性推定用パラメータとする。この特性推定用パラメータを用いることにより、セルの出力信号波形を入力信号波形の傾き及び負荷容量の容量値を変数とする時間の関数として表すことができるので、セルの入出力間における波形伝搬の推定が可能になる。なお、可変抵抗12,13に代えて可変アドミタンス17,18を備えた回路モデル10Aを用いてもよい。
Claim (excerpt)：
セルの信号波形伝搬特性等の特性を推定するために用いるパラメータをキャラクタライズする,セルの特性推定用パラメータのキャラクタライズ方法であって、セルを、入力信号波形の傾き及び負荷容量の容量値を変数とするモデル式によって抵抗値が表される可変抵抗と、定電圧源と、内部容量とによって構成された回路モデルに置き換え、前記回路モデルを用いて立てた回路方程式及び前記セルに対するシミュレーションの結果から前記モデル式の係数を求めて、求めた係数を前記モデル式に代入して得られた前記可変抵抗の抵抗値を表す関数を、前記セルの特性推定用パラメータとすることを特徴とするセルの特性推定用パラメータのキャラクタライズ方法。
IPC (3)：
G06F 17/50
, G01R 31/28
, H01L 21/82
G06F 15/60 668 A
, G01R 31/28 F
, H01L 21/82 C
