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J-GLOBAL ID:200903010643490030
形状測定装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
西森 正博
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997173275
Publication number (International publication number):1999006728
Application date: Jun. 13, 1997
Publication date: Jan. 12, 1999
Summary:
【要約】【課題】 鋼構造部材のような大型の被測定物を、測定機を順次移動させて測定する場合に、精度良く測定することができる形状測定装置を提供する。【解決手段】 少なくとも3個の基準点9a、9b、9cから成る基準点群8a〜8gが設定されている測定用治具3を準備する。基準点群間の位置関係は予め精密に測定しておく。特定の測定位置で被測定物5を測定したときは、例えば基準点群8bの座標も測定し、第1の座標データ群を得る。他の特定の測定位置で測定したときは、例えば基準点群8dの座標も測定して第2の座標データ群を得る。その後、基準点群8b、8dの位置関係に基づいて、第1及び第2の座標データ群を合成して、被測定物5の全体の形状を把握する。
Claim (excerpt):
プローブ(6)の先端を被測定物(5)の表面に接触させて形状を測定する測定機(2)と、少なくとも3個の基準点(9a)(9b)(9c)から成る基準点群(8a〜8h)が、予め定める相対的な位置関係を有して複数個設定されている測定用治具(3)と、複数の異なる測定位置で測定した被測定物(5)の形状を、それぞれ異なる基準点群(8a〜8h)と関連付けて把握し、基準点群間の相対的な位置関係に基づいて、被測定物(5)の形状を合成する制御手段(4)とを備えることを特徴とする形状測定装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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測定範囲に制限のない3次元測定器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-033892
Applicant:宗平聖士郎
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特表平5-501006
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特開昭63-172911
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