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J-GLOBAL ID：200903010809239188

X線検査装置

Inventor：
芝田 健治

About 芝田 健治


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 西岡 義明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000147627
Publication number (International publication number)：2001330567
Application date： May. 19, 2000
Publication date： Nov. 30, 2001
Summary：
【要約】【課題】半田などの実装検査におけるX線検査において、検査者による作業負担を軽減し、或いは自動検査を実現する。【解決手段】傾動/回動機構を備えたX線検査装置において、各回動角度からの画像を列挙表示することにより、検査者による目視観察を容易かつ良好なものとする。また、画像処理により各回動画像におけるボール/ボイド面積比を算出し、これを利用した任意の条件により実装不具合を検出することができる。
Claim (excerpt)：
X線発生手段と、被検査物の直視方向に対して傾動/回動機構とを備えたX線カメラとからなるX線透視撮像手段と、前記傾動/回動機構により得られる複数方向からの透視像を同時観察可能に表示する表示手段を備えてなるX線検査装置。
F-Term (20)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001FA06 ,  2G001GA06 ,  2G001GA13 ,  2G001HA01 ,  2G001HA13 ,  2G001JA01 ,  2G001JA06 ,  2G001JA08 ,  2G001JA09 ,  2G001JA11 ,  2G001JA13 ,  2G001KA03 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05 ,  2G001PA11 ,  2G001PA12
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (8)
  • X線透過像検出によるはんだ付け検査方法とその装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-111337   Applicant：株式会社日立製作所
  • 特開平3-081606
  • 特公平7-019289
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