Pat
J-GLOBAL ID：200903011197401955

X線照射を使用して対象の内部構造の画像を得る方法およびそれを実行する装置

Inventor：
ムラジン アブベキロビッチ クマホフ

About ムラジン アブベキロビッチ クマホフ


Applicant, Patent owner：
クマホフ, ムラジン アブベキロビッチ

About クマホフ, ムラジン アブベキロビッチ


Agent (1)： 山本 秀策
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004302304
Publication number (International publication number)：2005099030
Application date： Oct. 15, 2004
Publication date： Apr. 14, 2005
Summary：
【課題】被験体(特に、生体)の内部構造の写真(視覚的に認知できる形態で提示されたもの)を得る。【解決手段】X線源によるX線照射は、(例えば、X線レンズ2の助けを借りて)、被験体5の検査領域7の内側に設置されたポイント4を含む領域で集中され、それには、電流測定結果が参照される。該領域内で現れる二次照射(コンプトン、蛍光)は、(例えば、X線レンズ3の助けを借りて)、1個または数個の検出器6に運搬される。被験体5の検査領域7のスキャンアウトは、該領域に位置をずらすことにより実行され、そのポイントでの被験体の密度は、1個または数個の検出器6から受容された二次照射強度値を総計することにより決定され、そしてポイント4の座標と同時に決定される。 【選択図】図1
Claim (excerpt)：
X線により対象の内部構造の画像を作成する装置であって、該装置は、以下の部分を含む: 該対象を位置付ける手段; X線システムであって、1つ以上のX線源を含む、該X線システム; 該X線システムに対して、該対象を位置付ける手段を相対的に移動するための手段; データ処理および画像化の手段であって、ここで、該X線システムはまた、研究中の該対象領域内部に位置づけられ、かつ測定結果が帰属される現在のポイントをカバーするX線集中ゾーン内の、該1つ以上のX線源からの放射を集中するための1つ以上のX線集中手段を含み; 該1つ以上のX線集中手段の各々が、対応するX線源に接続され; 該X線集中ゾーン内で生じる二次放射を運搬するための1つ以上の手段; 該二次放射を運搬するための1つ以上の手段の各々が、二次放射を検出するための対応する検出器に接続されており; 該二次放射を運搬するための1つ以上の手段の出力口に配置された、二次放射を検出するための検出器であって、ここで、該二次放射を検出するための検出器の出力口が、該データ処理および画像化の手段に接続され、該データ処理および画像化の手段が、該二次放射を検出するための検出器の出力に基づいて、測定結果が帰属されるポイント内の物質密度係数を決定する、検出器; 該測定結果が帰属される該ポイントの座標を決定するための検出器であって、研究中の該対象を位置付けるための手段と、該X線システムに接続された、検出器; ここで、該測定結果が帰属される該ポイントの座標を決定するための検出器の出力口が、該データ処理および画像化の手段に接続されており、該データ処理および画像化の手段が、該測定結果が帰属される該ポイントの座標を決定するための該検出器の出力口に基づいて、研究中の該対象の領域に対して、該測定結果が帰属される該ポイントの相対位置を決定する、装置。
IPC (5)：
G01N23/22 ,  A61B6/00 ,  G21K1/02 ,  G21K1/06 ,  G21K5/02
FI (5)：
G01N23/22 ,  A61B6/00 330Z ,  G21K1/02 C ,  G21K1/06 B ,  G21K5/02 X
F-Term (22)：
2G001AA01 ,  2G001AA10 ,  2G001BA15 ,  2G001CA01 ,  2G001DA06 ,  2G001EA04 ,  2G001EA06 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA01 ,  2G001JA06 ,  2G001KA01 ,  2G001KA03 ,  2G001LA01 ,  2G001SA02 ,  4C093AA07 ,  4C093CA34 ,  4C093EA06 ,  4C093EA11 ,  4C093EA13 ,  4C093EB22
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)
  • X線検査装置及びX線検査方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-029899   Applicant：松下電器産業株式会社
  • 蛍光X線分析装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-328468   Applicant：理学電機工業株式会社
  • 特表平7-504491

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM