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J-GLOBAL ID：200903011511561695

RFIDタグの検査装置およびそれに用いる基材シート

Inventor： 宮崎 洋一 ,  内田 修
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (3)： 岩橋 文雄 ,  内藤 浩樹 ,  永野 大介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005202735
Publication number (International publication number)：2007025762
Application date： Jul. 12, 2005
Publication date： Feb. 01, 2007
Summary：

【課題】複数個のRFIDタグが近接して形成された基材シートを用い、干渉することなく実使用状態の通信距離で、通信動作を検査できるRFIDタグの検査装置を提供することを目的とする。【解決手段】RFIDタグ10が複数個配置された基材シート20と、少なくとも1箇所に基材シート20の搬送方向を変える搬送方向変換部60を有する搬送装置30と、搬送方向変換部60で、RFIDタグ10の通信動作を通信検査用電磁波45を介して検査する所定の距離に配置されたリーダ/ライタ40を有する通信検査手段と、RFIDタグ10の通信動作を判定する判定装置50とを備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

RFIDタグが複数個配置された基材シートと、 少なくとも1箇所に前記基材シートの搬送方向を変える搬送方向変換部を有する搬送手段と、 前記搬送方向変換部で、前記RFIDタグの通信動作を検査する所定の距離に配置されたリーダ/ライタを有する通信検査手段と、 前記RFIDタグの前記通信動作を判定する判定手段と、 を備えていることを特徴とするRFIDタグの検査装置。

IPC (3)：

G06K 17/00 ,  G06K 19/07 ,  G01R 31/302

FI (4)：

G06K17/00 B ,  G06K17/00 F ,  G06K19/00 H ,  G01R31/28 L

F-Term (16)：

2G132AA08 ,  2G132AA18 ,  2G132AF16 ,  2G132AG01 ,  2G132AL00 ,  5B035AA04 ,  5B035AA11 ,  5B035BB09 ,  5B035CA01 ,  5B035CA23 ,  5B035CA31 ,  5B058CA17 ,  5B058CA23 ,  5B058KA24 ,  5B058KA28 ,  5B058KA29

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 非接触ICカード用検査装置および検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-158100   Applicant：凸版印刷株式会社