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J-GLOBAL ID：200903011609709160

蛍光体検査方法及び蛍光体検査装置

Inventor：
渡貫 明男

About 渡貫 明男


Applicant, Patent owner：
株式会社日立国際電気

About 株式会社日立国際電気


Agent (2)： 小川 勝男 ,  田中 恭助
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004294500
Publication number (International publication number)：2005024572
Application date： Oct. 07, 2004
Publication date： Jan. 27, 2005
Summary：
【課題】 プラズマディスプレイ等のガラス基板に塗布された蛍光体ストライプの塗布むらの検査において、ストライプ状に塗布された蛍光体の非発光部分の影響によるモアレ現象の発生および蛍光体ストライプを発光させるために用いる紫外線照明の照明むらにより蛍光体ストライプの塗布むらを適正に検査できないという問題がある。 【解決手段】 基板に形成され、複数のほぼ等間隔に配列された蛍光体に電磁波または粒子線を照射し、上記蛍光体から発光する光を撮像し、上記撮像された画像の信号レベルを検出し、上記信号レベルの所定値以上の信号レベルに相当する部分の平均値を算出し、上記算出した平均値に基づいて上記蛍光体の塗布むらを検出するように構成される。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
基板に形成され、複数のほぼ等間隔に配列された蛍光体に電磁波または粒子線を照射し、上記蛍光体から発光する光を撮像し、上記撮像された画像の信号レベルを検出し、上記信号レベルの所定値以上の信号レベルに相当する部分の平均値を算出し、上記算出した平均値に基づいて上記蛍光体の塗布むらを検出することを特徴とする蛍光体検査方法。
IPC (3)：
G01N21/88 ,  H01J9/42 ,  H01J11/02
FI (3)：
G01N21/88 Z ,  H01J9/42 A ,  H01J11/02 B
F-Term (29)：
2G043AA03 ,  2G043CA07 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043GA08 ,  2G043GB21 ,  2G043KA03 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06 ,  2G051AA42 ,  2G051AA90 ,  2G051AB12 ,  2G051BA05 ,  2G051CA03 ,  2G051CC07 ,  2G051CC15 ,  2G051DA06 ,  2G051EA16 ,  2G051EA17 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  2G051EC03 ,  5C012AA09 ,  5C012BE03 ,  5C040GG09 ,  5C040JA26 ,  5C040MA24
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (5)
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