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J-GLOBAL ID:200903011693020864
光測定装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
河野 登夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999313106
Publication number (International publication number):2001133404
Application date: Nov. 02, 1999
Publication date: May. 18, 2001
Summary:
【要約】【課題】 可及的に低いコストで、複数ラインのコンベアで移送される被測定物の状態をオンラインで高精度に測定することを可能とする光測定装置を提供する。【解決手段】 コンピュータ11は、メモリ12に設けた各格納領域を検索しTimer[Pi ]が零の領域のFlg exist[Pi ]=ONであるか否かを判断し、OFFである場合、下流の格納領域Pi+1 を検索して、Flg exist[Pi+1 ]=ONであるか否かを判断する。コンピュータ11は、それがOFFである場合、条1のコンベア80に配設した投光ユニット1及び条2のコンベア80に配設した投光ユニット1の光路には共に被測定物Hが存在しないので、入射光切り換えユニット20に、投光ユニット1,1からの光路を順番に切り換えさせると共に、フィルタ切り換えユニット40に、減光フィルタを光路内に進入させ、検出器60から与えられて値をリファレンス値として各別に記憶する。
Claim (excerpt):
複数の被測定物を所定の間隔で搬送する複数ラインの搬送機(80,80)と、各搬送機(80,80)にそれぞれ設けてあり、被測定物へ光を出射する投光器(1,1)及び該投光器(1,1)が出射した光が入射する受光器(2,2)と、各搬送機(80,80)の前記投光器(1,1)及び受光器(2,2)から搬送方向の所定距離上流側に配置してあり、被測定物の存否を検出する被測定物検出器(7,7)と、各受光器(2,2)に入射された光を導く複数の導光体(6,6)と、入射された光を分光する分光器(50)と、各導光体(6,6)から分光器(50)へ入射する光を切り換える光切り換え器(20)と、該光切り換え器(20)と前記分光器(50)との間に進退自在に配設してあり、前記分光器(50)へ入射する光の強度を低減する減光手段及び前記分光器(50)へ入射する光を遮断する遮光手段を進退させる入射光変更器(40)と、分光器(50)によって分光された光の強度に対応する信号を出力する光電変換器(60)と、各被測定物検出器(7,7)が出力した信号に基づいて前記光切り換え器(20)の動作及び入射光変更器(40)の動作を制御する手段と、被測定物の光測定に係る測定信号、減光手段を進入させた場合のリファレンス信号、及び遮光手段を進入させた場合の暗信号を前記光電変換器(60)から得る手段と、前記測定信号リファレンス信号、及び暗信号に基づいて、被測定物の状態に係る演算を行う手段とを備えることを特徴とする光測定装置。
IPC (2):
FI (2):
G01N 21/35 Z
, G01N 33/02
F-Term (15):
2G059AA01
, 2G059BB08
, 2G059BB11
, 2G059DD12
, 2G059EE01
, 2G059EE02
, 2G059FF08
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ17
, 2G059JJ25
, 2G059KK01
, 2G059MM10
, 2G059MM15
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (11)
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物品検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-246082
Applicant:石井工業株式会社
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画像読取り装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-110354
Applicant:株式会社テクノイシイ
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物品搬送装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-106781
Applicant:石井工業株式会社
-
分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-333221
Applicant:株式会社クボタ
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光学的測定方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-041944
Applicant:財団法人雑賀技術研究所
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分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-291097
Applicant:株式会社クボタ
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生体表層組織の分析方法及び生体表層組織の分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-048422
Applicant:松下電工株式会社
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対象物内部品質測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-125547
Applicant:三井金属鉱業株式会社
-
欠損検出装置及び欠損検出方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-217363
Applicant:株式会社間瀬, オムロン株式会社
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分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-291098
Applicant:株式会社クボタ
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分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-291099
Applicant:株式会社クボタ
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