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J-GLOBAL ID：200903011871271396

物体の歪を検出する方法およびその装置

Inventor：
不動寺 浩

About 不動寺 浩

, 
澤田 勉

About 澤田 勉


Applicant, Patent owner：
独立行政法人物質・材料研究機構

About 独立行政法人物質・材料研究機構


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005060454
Publication number (International publication number)：2006242819
Application date： Mar. 04, 2005
Publication date： Sep. 14, 2006
Summary：
【課題】 物体の歪による変形量を大面積にわたって、容易に検出する方法、および、その装置を提供すること。【解決手段】 物体の歪をする方法は、物体に検出膜を適用するステップであって、検出膜は、周期的に配列した、第1の面間隔を有する粒子と、前記粒子間の間隙を埋める弾性体とを含む、ステップと、検出膜を介して物体に光を照射するステップと、検出膜中の粒子で反射された光を受光するステップであって、物体に歪が生じていない場合、第1の面間隔を有する粒子で反射された光を受光し、物体に歪が生じている場合、歪に応じて第1の面間隔から所定の関係を満たすように変化した第2の面間隔を有する粒子で反射された光を受光する、ステップと、受光された光から物体の歪を検出するステップとを包含する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
物体の歪をする方法であって、 前記物体に検出膜を適用するステップであって、前記検出膜は、周期的に配列した、第1の面間隔を有する粒子と、前記粒子間の間隙を埋める弾性体とを含む、ステップと、 前記検出膜を介して前記物体に光を照射するステップと、 前記検出膜中の前記粒子で反射された前記光を受光するステップであって、前記物体に歪が生じていない場合、前記第1の面間隔を有する前記粒子で反射された前記光を受光し、前記物体に歪が生じている場合、前記歪に応じて前記第1の面間隔から所定の関係を満たすように変化した第2の面間隔を有する前記粒子で反射された前記光を受光する、ステップと、 前記受光された光から前記物体の歪を検出するステップと を包含する、方法。
IPC (1)：
G01B 11/14
FI (1)：
G01B11/14 G
F-Term (11)：
2F065AA65 ,  2F065FF48 ,  2F065FF51 ,  2F065GG24 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ12 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL02 ,  2F065LL67
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (10)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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