散乱吸収体内の散乱特性・吸収特性の測定方法及び装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：長谷川芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994272508
Publication number (International publication number)：1996136448
Application date： Nov. 07, 1994
Publication date： May. 31, 1996
Summary：

【要約】【目的】散乱吸収体内で光が拡散伝搬する過程に対する理論的かつ実験的に十分な解析に基づいて、測定誤差を低減して計測精度を向上させる。【構成】測定装置20は、光ガイド70を介してパルス状の測定光を散乱吸収体10に出射する光源30と、散乱吸収体10から光ガイド71,72を介して異なる光入射位置-光検出位置間距離ρ1 ,ρ2 に対応した測定光の時間分解計測をそれぞれ行う光検出器40,41と、複数の時間分解計測の結果に基づいて複数の測定光の平均光路長をそれぞれ算出する光路長演算部51と、光入射位置-光検出位置間距離ρ1 ,ρ2 に対応する複数の平均光路長の計算値と、散乱吸収体10内の拡散伝搬経路における散乱特性及び吸収特性を含む光拡散特性に基づいて導出した平均光路長の理論式とからなる複数の連立関係に基づいて、散乱吸収体10内の散乱係数及び吸収係数を算出する光拡散演算部52とから構成されている。

Claim (excerpt)：

所定波長を有するパルス状の測定光を散乱吸収体に入射する第1のステップと、この第1のステップにおいて前記測定光を入射した前記散乱吸収体の光入射位置と、前記測定光を検出する前記散乱吸収体の光検出位置とからなって、異なる光入射位置-光検出位置間距離を有する複数の組み合わせに対応する当該光検出位置で、前記散乱吸収体内を拡散伝搬した前記測定光の時間分解計測をそれぞれ行う第2のステップと、この第2のステップにおいて測定した複数の前記時間分解計測の結果に基づいて、前記光入射位置-光検出位置間距離に対応する複数の前記測定光の平均光路長をそれぞれ算出する第3のステップと、この第3のステップにおいて算出した前記光入射位置-光検出位置間距離に対応する前記複数の平均光路長の計算値と、前記散乱吸収体内の拡散伝搬経路における散乱特性及び吸収特性を含む光拡散特性に対応して導出した前記平均光路長の理論式とからなる複数の連立関係に基づいて、前記散乱吸収体内の散乱係数及び吸収係数を算出する第4のステップとを備えることを特徴とする散乱吸収体内の散乱特性・吸収特性の測定方法。

IPC (4)：

G01N 21/27 , A61B 5/14 310 , A61B 10/00 , G01N 21/49

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

光断層イメージング装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-062303 Applicant：浜松ホトニクス株式会社
特開平2-163634

Cited by examiner (2)

光断層イメージング装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-062303 Applicant：浜松ホトニクス株式会社
特開平2-163634

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