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J-GLOBAL ID：200903012090873850
雑音指数測定方法および装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
井出 直孝 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994017593
Publication number (International publication number)：1995226549
Application date： Feb. 14, 1994
Publication date： Aug. 22, 1995
Summary：
【要約】【目的】 多くの納入業者から供給される製造工程の異なった光増幅器の特性を簡便かつ高い精度で測定できるようにする。【構成】 被測定光増幅器の上準位の原子寿命またはキャリヤ寿命より十分に短い周期で強度変調された繰り返し光パルス信号をその被測定光増幅器の入力に与え、この光パルス信号のある時間領域に同期するその被測定光増幅器の出力光電力およびこの光パルス信号のない時間領域に同期するその被測定光増幅器の出力電力を分離して検出する。
Claim (excerpt)：
被測定光増幅器の上準位の原子寿命またはキャリヤ寿命より十分に短い周期で強度変調された繰り返し光パルス信号を被測定光増幅器の入力に与え、この光パルス信号の有る時間領域に同期した被測定光増幅器の出力光電力(PAMP ) およびこの光パルス信号の無い時間領域に同期した被測定光増幅器の出力光電力(PASE ) を分離して検出し、プランク定数をh、光パルス信号の光周波数をν、被測定光増幅器の利得をG、前記光パルス信号の無い時間領域に同期した被測定光増幅器の出力光電力(PASE ) を測定するときの通過帯域幅をB0 とするとき、【数1】を演算することを特徴とする雑音指数測定方法。
IPC (4)：
H01S 3/00
, G01M 11/00
, H01L 21/66
, H01S 3/10
