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J-GLOBAL ID:200903074704143540
増幅された自然放出ノイズの測定のための方法と装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993257615
Publication number (International publication number):1994224492
Application date: Sep. 21, 1993
Publication date: Aug. 12, 1994
Summary:
【要約】【目的】信号存在下の自然放出ノイズの測定をおこなう。【構成】光信号発生器16の出力信号をスイッチ18を介して光学増幅器10に入力し、その出力を光スペクトル・アナライザ24にて観測する。スイッチ18を閉成し、アナライザを0スパンとして、信号波を観測する状態から、スイッチ18を開放する。アナライザのノイズレベルの変化を外挿して、信号存在下での自然放出ノイズを求める。
Claim (excerpt):
光信号存在下で光学回路の光出力に含まれる増幅された自然放出ノイズを測定するため、所定強度の前記光信号を迅速にオフし、その後の前記光学回路の光出力を測定するようにした増幅された自然放出ノイズの測定のための方法。
IPC (5):
H01S 3/00
, G01M 11/00
, H01S 3/07
, H01S 3/10
, H01L 21/66
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
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光増幅器の雑音特性測定方式
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-058259
Applicant:富士通株式会社
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