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J-GLOBAL ID:200903012442365753

半導体ダイオードを使用したレーザ分光装置およびレーザ分光法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 朝倉 正幸
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2003584684
Publication number (International publication number):2005522694
Application date: Apr. 08, 2003
Publication date: Jul. 28, 2005
Summary:
半導体ダイオードレーザ分光計を使用して気体を検知するための方法であって、試料気体を非共振光学セル(17)へ導入し;レーザ(20)が光学セル(17)へ導入する連続波長チャープ(16a)を出力するようにステップ関数電気パルス(19)を半導体ダイオードレーザ(20)に印加し;連続波長チャープ(16a)を光学セル(17)へ導入し;波長チャープが提供する波長変動を波長走査として利用し;セル(17)が射出する光(23)を検知する工程から成り、光学セル(17)内における光の干渉を実質的に抑制するためにチャープ率を選択する方法。
Claim (excerpt):
試料気体を非共振光学セルへ導入し; 段階関数の電気的パルスを半導体ダイオードレーザに印加し、前記の光学セルに注入するための連続波長チャープを前記レーザに出力させ; 連続波長チャープを前記の光学セルへ導入し; 波長チャープが提供する波長変動を波長走査として利用し; セルが発する光を検知することを包含する半導体ダイオードレーザ分光計を使用した気体検知方法において、 光学セル内で起る光の干渉が実質的に防止されるようにチャープ率を選択する前記の気体検知方法。
IPC (5):
G01N21/39 ,  G01J3/42 ,  G01N21/03 ,  G01N21/35 ,  H01S5/00
FI (5):
G01N21/39 ,  G01J3/42 U ,  G01N21/03 B ,  G01N21/35 Z ,  H01S5/00
F-Term (46):
2G020AA03 ,  2G020BA02 ,  2G020BA12 ,  2G020CA02 ,  2G020CA14 ,  2G020CB05 ,  2G020CB07 ,  2G020CB23 ,  2G020CB42 ,  2G020CC02 ,  2G020CC26 ,  2G020CC47 ,  2G020CD03 ,  2G020CD13 ,  2G020CD22 ,  2G020CD32 ,  2G020CD38 ,  2G057AA01 ,  2G057AB02 ,  2G057AB04 ,  2G057AB06 ,  2G057AC03 ,  2G057BA01 ,  2G057DC06 ,  2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059FF09 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2G059MM14 ,  2G059NN06 ,  5F173SA15 ,  5F173SA20 ,  5F173SC10 ,  5F173SE02 ,  5F173SG05 ,  5F173SG21
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
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