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J-GLOBAL ID：200903012463168702

小型無線機器の性能評価用測定室

Inventor： 石野 健 ,  橋本 康雄 ,  鈴木 良和 ,  柳川 太成
Applicant, Patent owner： ティーディーケイ株式会社
Agent (1)： 山本 恵一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993201311
Publication number (International publication number)：1995038275
Application date： Jul. 22, 1993
Publication date： Feb. 07, 1995
Summary：

【要約】【目的】 小型であって設置スペースを取らず、しかもコストが安く、小型無線機器の送信性能及び受信性能の検査及び評価が極めて効率よく行える性能評価用測定室を提供する。【構成】 不特定多数の共振モードが内部に同時に存在するように、少なくとも1対の対向する金属壁間隔が使用される最低周波数の4波長以上である金属壁で囲まれた多面体構造の測定室10であり、不特定多数の共振モードにおける境界条件を15msec以下の周期で時間的に変動させる境界条件変動手段11、12を備えている。

Claim (excerpt)：

不特定多数の共振モードが内部に同時に存在するように、少なくとも1対の対向する金属壁間隔が使用される最低周波数の4波長以上である金属壁で囲まれた多面体構造の測定室であり、不特定多数の共振モードにおける境界条件を15msec以下の周期で時間的に変動させる境界条件変動手段を備えたことを特徴とする小型無線機器の性能評価用測定室。

IPC (3)：

H05K 9/00 ,  G12B 17/02 ,  H01P 7/06

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 電磁波妨害排除能力測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-159923   Applicant：エレナ電子株式会社
• 電波暗室
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-172145   Applicant：株式会社日立製作所
• 特開平2-042799