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J-GLOBAL ID:200903012894194948

レーザ溶接状態監視装置及び監視方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 後藤 洋介 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998217470
Publication number (International publication number):2000042769
Application date: Jul. 31, 1998
Publication date: Feb. 15, 2000
Summary:
【要約】【課題】 欠陥の検出精度を向上させることのできるレーザ溶接状態監視装置を提供すること。【解決手段】 レーザトーチ12の筺体内に、ワーク14に照射されるレーザ光の光軸と同軸になるようにして溶接箇所から発する溶接光を集光する集光レンズ15を設ける。溶接光のうちのプラズマ光を複数の光ファイバ2と複数のフォトダイオード3とで電気信号に変換する。溶接光のうち、照射されたレーザ光の反射光を複数の光ファイバ4と複数のフォトダイオード5とで電気信号に変換する。溶接状態判定処理装置6は、フォトダイオード3からの複数の電気信号のレベルとフォトダイオード5からの複数の電気信号のレベルとに基づいて溶接箇所の欠陥検出を行う。
Claim (excerpt):
レーザ光をレーザトーチでワークに照射して溶接を行うレーザ溶接機において、前記レーザトーチの筺体内に、前記ワークに照射される前記レーザ光の光軸と同軸になるようにして溶接箇所から発する溶接光を集光する集光レンズを設け、前記集光レンズで集光された光を、互いに隣接させて配置した複数の受光手段により受光し、前記複数の受光手段で受光した複数の光の強度に基づいて溶接箇所の欠陥検出を行うことを特徴とするレーザ溶接状態監視装置。
IPC (6):
B23K 26/00 ,  B23K 26/00 310 ,  G01N 21/63 ,  G01N 21/88 ,  G02B 7/182 ,  H04N 5/335
FI (6):
B23K 26/00 P ,  B23K 26/00 310 A ,  G01N 21/63 Z ,  G01N 21/88 Z ,  H04N 5/335 F ,  G02B 7/18 Z
F-Term (62):
2G043AA03 ,  2G043BA01 ,  2G043CA02 ,  2G043CA05 ,  2G043DA08 ,  2G043EA10 ,  2G043FA03 ,  2G043GA04 ,  2G043GA21 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA05 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01 ,  2G043MA11 ,  2G043NA01 ,  2G043NA05 ,  2G043NA06 ,  2G051AA37 ,  2G051AB07 ,  2G051AC21 ,  2G051BA10 ,  2G051CA03 ,  2G051CA07 ,  2G051CB10 ,  2G051CC12 ,  2G051CC17 ,  2G051DA06 ,  2G051EA08 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051EC01 ,  2H043CB01 ,  2H043CE00 ,  4E068BA00 ,  4E068CA02 ,  4E068CC02 ,  4E068CD01 ,  4E068CD10 ,  4E068CD11 ,  4E068CD13 ,  5C024AA01 ,  5C024AA06 ,  5C024CA00 ,  5C024EA03 ,  5C024EA04 ,  5C024EA09 ,  5C024FA01 ,  5C024GA01 ,  5C024GA11 ,  5C024HA02 ,  5C024HA14 ,  5C024HA17 ,  5C024HA18 ,  5C024HA21 ,  5C024HA27
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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