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J-GLOBAL ID:200903013395918168
リチウムイオン伝導性硫化物系結晶化ガラス及びその製造方法
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
渡辺 喜平
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004035380
Publication number (International publication number):2005228570
Application date: Feb. 12, 2004
Publication date: Aug. 25, 2005
Summary:
【課題】 室温でも極めて高いリチウムイオン伝導性を示し、熱処理温度の低温化、Li源使用量の低減を図ることにより工業生産が可能で、かつ経済性に優れた硫化物系結晶性ガラス及びその製造方法を提供する。【解決手段】 構成成分として、リチウム(Li)、リン(P)及び硫黄(S)元素を含有し、X線回折(CuKα:λ=1.5418Å)において、2θ=17.8±0.3deg,18.2±0.3deg,19.8±0.3deg,21.8±0.3deg,23.8±0.3deg,25.9±0.3deg,29.5±0.3deg,30.0±0.3degに回折ピークを有するリチウムイオン伝導性硫化物系結晶化ガラス。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
構成成分として、リチウム(Li)、リン(P)及び硫黄(S)元素を含有し、X線回折(CuKα:λ=1.5418Å)において、2θ=17.8±0.3deg,18.2±0.3deg,19.8±0.3deg,21.8±0.3deg,23.8±0.3deg,25.9±0.3deg,29.5±0.3deg,30.0±0.3degに回折ピークを有するリチウムイオン伝導性硫化物系結晶化ガラス。
IPC (7):
H01M10/36
, C03B8/00
, C03B32/02
, C03C3/32
, C03C10/00
, H01B1/06
, H01B13/00
FI (7):
H01M10/36 A
, C03B8/00 C
, C03B32/02
, C03C3/32
, C03C10/00
, H01B1/06 A
, H01B13/00 Z
F-Term (80):
4G014AG00
, 4G015EA02
, 4G062AA11
, 4G062BB18
, 4G062DA01
, 4G062DB01
, 4G062DC01
, 4G062DD03
, 4G062DD04
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, 4G062DD06
, 4G062DE01
, 4G062DF01
, 4G062EA05
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, 4G062EA07
, 4G062EB01
, 4G062EC01
, 4G062ED01
, 4G062EE01
, 4G062EF01
, 4G062EG01
, 4G062FA01
, 4G062FB01
, 4G062FC01
, 4G062FD01
, 4G062FE01
, 4G062FF01
, 4G062FG01
, 4G062FH01
, 4G062FJ01
, 4G062FK01
, 4G062FL01
, 4G062GA01
, 4G062GB04
, 4G062GB05
, 4G062GB06
, 4G062GB07
, 4G062GC01
, 4G062GD01
, 4G062GE01
, 4G062HH01
, 4G062HH03
, 4G062HH05
, 4G062HH07
, 4G062HH09
, 4G062HH11
, 4G062HH13
, 4G062HH15
, 4G062HH17
, 4G062HH20
, 4G062JJ01
, 4G062JJ03
, 4G062JJ05
, 4G062JJ07
, 4G062JJ10
, 4G062KK01
, 4G062KK03
, 4G062KK05
, 4G062KK07
, 4G062KK10
, 4G062MM13
, 4G062MM14
, 4G062MM15
, 4G062NN25
, 4G062QQ20
, 5G301CD01
, 5G301CE02
, 5H029AJ06
, 5H029AJ14
, 5H029AM12
, 5H029CJ01
, 5H029CJ12
, 5H029DJ09
, 5H029DJ17
, 5H029EJ06
, 5H029HJ01
, 5H029HJ02
, 5H029HJ13
, 5H029HJ14
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
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