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J-GLOBAL ID：200903013407784324

プラズモン共鳴粒子、方法、および装置

Inventor： シュルツ,シェルドン ,  シュルツ,デイビッド エイ. ,  スミス,デイビッド アール. ,  モック,ジャック ジェイ. ,  シルバ,トーマス ジェイ.
Applicant, Patent owner： ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア
Agent (1)： 山本 秀策
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1998536774
Publication number (International publication number)：2001513198
Application date： Feb. 20, 1998
Publication date： Aug. 28, 2001
Summary：

【要約】標的において分配された複数のプラズモン共鳴粒子(PRE)を有する標的を審問するための方法および装置が開示される。本発明の方法において、標的を含む場が照射され、そして場における光散乱粒子の1つ以上のスペクトル発光特性が検出される。このデータから、場における位置およびスペクトル特性値の画像が構築され、選択されたスペクトルサインを有するPREが、他の光散乱実体から識別されることを許容し、場についての情報を提供する。また開示されるのは、本発明の方法を実施することにおいて使用するための新規なPRE組成物、および本発明の方法の多様な診断的適用である。

Claim (excerpt)：

分配された複数のPREを有する場を審問する方法であって、 光学的な光源で該場を照射する工程、 該場における個々のPREおよび他の光散乱実体のスペクトル発光特性を、検出する工程、 該場に存在する個々のPREおよび他の光散乱実体の該発光スペクトル特性の位置および値のコンピューター画像を構築する工程、ならびに 選択されたサインPREに独特の検出されたスペクトル特性の値に基づいて、他の光散乱実体から、選択されたスペクトルサインを有するPREを識別し、該場についての情報を提供する工程、を包含する、方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 薄膜の物理的性質を検査する方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-010758   Applicant：ビーエーエスエフアクチエンゲゼルシヤフト

Cited by examiner (1)

• 薄膜の物理的性質を検査する方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-010758   Applicant：ビーエーエスエフアクチエンゲゼルシヤフト

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• Investigation of localized surface plasmons with the photon scanning tunneling microscope

Cited by examiner (1)

• Investigation of localized surface plasmons with the photon scanning tunneling microscope