Pat
J-GLOBAL ID：200903013463624429
テスト項目抽出システム、テスト項目抽出装置、及びそれに用いるテスト項目抽出方法並びにそのプログラム
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
▲柳▼川 信
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004148520
Publication number (International publication number)：2005332098
Application date： May. 19, 2004
Publication date： Dec. 02, 2005
Summary：
【課題】 対象となるソフトウェアあるいはシステムの開発経験が乏しくても、利用環境や運用条件に基づいて必要十分なテスト項目を容易に生成可能なテスト項目抽出装置を提供する。【解決手段】 テスト項目抽出部12は前提条件入力部11から入力された前提条件に基づいて、テスト項目管理部17が管理するテスト項目の中から、対象となるソフトウェアのテスト項目の候補を抽出する。テスト項目抽出部13はテスト項目抽出部12が検索したテスト候補項目を、過去の不具合発生率に応じて、不具合が発生しやすい順に操作者画面2aに表示する。テスト仕様登録部14は操作者が提示したテスト項目候補の中から、対象となるソフトウェアのテスト仕様としてテストする項目を選択し、テスト仕様管理部18に対象となるソフトウェアのテスト仕様として登録する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
少なくともソフトウェアを含む開発対象の信頼性を向上させるためのテスト設計におけるテスト項目を抽出するテスト項目抽出システムであって、過去に開発された開発対象のテスト項目を管理するテスト項目管理手段と、外部からの前提条件に基づいて前記テスト項目管理手段で管理されるテスト項目の中から類似性の高いテスト項目を抽出するテスト項目抽出手段とを有することを特徴とするテスト項目抽出システム。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (4)：
5B042HH17
, 5B042HH19
, 5B042HH49
, 5B042MC30
Cited by applicant (2)
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動的仕様の検証ルールの図形式定義方法
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平3-284494
Applicant：株式会社日立製作所
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自動検査テスト関数を生成する方法及び装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平5-183196
Applicant：サン・マイクロシステムズ・インコーポレーテッド
Cited by examiner (1)
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