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J-GLOBAL ID：200903013501985970

三次元物体及びその表面画像の読取装置

Inventor：
安藤 和久

About 安藤 和久


Applicant, Patent owner：
富士ゼロックス株式会社

About 富士ゼロックス株式会社


Agent (1)： 阪本 清孝 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997316751
Publication number (International publication number)：1999148806
Application date： Nov. 18, 1997
Publication date： Jun. 02, 1999
Summary：
【要約】 (修正有)【課題】被計測物の距離情報及び輝度情報を得るに際して読み取り死角を低減し、各情報の対応付けを正確に行うことが可能な三次元物体及びその表面画像の読取装置を得る。【解決手段】被計測物11にスリット光を照射するスリット光投光部20と、被計測物の表面を撮像する撮像部30とを有し、撮像部が被計測物の周囲を相対的に移動する回転機構(回転部12)を備えた三次元物体及びその表面画像の読取装置であって、撮像部は、被計測物の正面部分からの可視光反射光を第一の撮像素子により受光して表面の輝度画像を読み取り、被計測物の正面部分と同じ領域に照射されたスリット光のスリット光反射光を第二の撮像素子により受光して表面形状(距離画像)を計測することにより、各画像情報を同時に読み取って高品質な画像データを得る。
Claim (excerpt)：
被計測物にスリット光を照射するスリット光投光部と、前記被計測物の表面を撮像する撮像部とを有し、前記撮像部が被計測物の周囲を相対的に移動する回転機構を備えた読取装置であって、前記撮像部は、被計測物の正面部分からの可視光反射光を第一の撮像素子により受光して表面の輝度情報を読み取る画像読取手段と、被計測物の前記正面部分と同じ領域に照射されたスリット光のスリット光反射光を第二の撮像素子により受光して表面形状を計測する三次元物体読取手段と、を具備することを特徴とする三次元物体及びその表面画像の読取装置。
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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