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J-GLOBAL ID：200903013531014413

測定装置

Inventor：
三田 彰

About 三田 彰

, 
片岡 俊一

About 片岡 俊一

, 
須田 治夫

About 須田 治夫


Applicant, Patent owner：
清水建設株式会社

About 清水建設株式会社

, 
株式会社東京測振

About 株式会社東京測振


Agent (1)： 秋元 輝雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999148175
Publication number (International publication number)：2000337955
Application date： May. 27, 1999
Publication date： Dec. 08, 2000
Summary：
【要約】【課題】測定装置が共通の欠点である強電界、強磁界からの影響をセンサーの部分が受けず、センサーから送出する測定のデータも変化しないようにし、測定精度及び信頼性に高い測定装置を得る。【解決手段】測定機器本体から検知対象位置まで光ファイバーケーブル1を延設して、検知対象位置での物理的変動に感応した光ファイバーの光信号を該光ファイバーケーブル1を介して測定機器本体にて遠隔測定する測定装置であって、検知対象位置にある光ファイバー3からなるセンサー2をブラッグ格子型光ファイバーとした。
Claim (excerpt)：
測定機器本体から検知対象位置まで光ファイバーケーブルを延設して、前記検知対象位置での物理的変動を変換機構によって歪み変動や温度変動に変換し、該歪み変動や温度変動に感応する光ファイバーの光データを該光ファイバーケーブルを介して測定機器本体にて遠隔測定する測定装置であって、前記検知対象位置にある光ファイバーからなるセンサーをブラッグ格子型光ファイバーとしていることを特徴とする測定装置。
IPC (5)：
G01H 9/00 ,  G01B 11/16 ,  G01K 11/12 ,  G01L 1/24 ,  G02B 6/00
FI (5)：
G01H 9/00 E ,  G01B 11/16 Z ,  G01K 11/12 H ,  G01L 1/24 A ,  G02B 6/00 B
F-Term (29)：
2F056VF02 ,  2F056VF03 ,  2F056VF09 ,  2F056VF12 ,  2F056VF15 ,  2F056VF20 ,  2F065AA65 ,  2F065CC07 ,  2F065CC14 ,  2F065DD11 ,  2F065FF52 ,  2F065FF67 ,  2F065FF69 ,  2F065GG04 ,  2F065GG07 ,  2F065KK01 ,  2F065LL02 ,  2F065LL64 ,  2F065MM16 ,  2F065MM26 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ41 ,  2F065UU07 ,  2G064AA05 ,  2G064BC13 ,  2H038AA03 ,  2H038AA05 ,  2H038AA07 ,  2H038BA25
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (4)
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