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J-GLOBAL ID：200903014055079788

撮像装置

Inventor：
伊藤 広

About 伊藤 広


Applicant, Patent owner：
オリンパス光学工業株式会社

About オリンパス光学工業株式会社


Agent (1)： 最上 健治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002001921
Publication number (International publication number)：2003204486
Application date： Jan. 09, 2002
Publication date： Jul. 18, 2003
Summary：
【要約】【課題】 撮像信号から精度よく欠陥画素を検出できるようにした撮像装置を提供する。【解決手段】 被写体光を電気信号に変換するためのCCD撮像素子3と、遮光板2と、遮光板と撮像素子を制御して、撮像素子の露光期間を制御する露光期間制御部5と、遮光板で入射光を遮った状態で撮像素子から得られる暗時信号を記憶する暗時信号記憶部6と、遮光板を退避させた本露光により撮像素子で得られた本露光撮像信号から記憶部に記憶されている暗時信号を減算する減算部7と、暗電流成分が減算処理された撮像信号から欠陥画素を検出する欠陥検出部8と、検出された欠陥画素を補正処理する欠陥補正部9とを備え、暗電流成分の相殺された撮像信号に対し欠陥画素の検出を行い、精度よく欠陥画素を検出できるように構成する。
Claim (excerpt)：
入射光を光電変換する複数の画素を有する撮像素子と、前記撮像素子への入射光を遮光する遮光手段と、絞り量及び撮影時間を設定し、且つ制御する露光制御手段と、前記撮像素子の出力を記憶するメモリ手段と、前記遮光手段を退避させた本露光撮影時に前記撮像素子で得られる本露光撮像信号から、前記遮光手段による入射光遮光時に前記撮像素子から得られる暗時信号を減じる減算手段と、該減算手段からの減算処理済み撮像信号から、前記撮像素子の欠陥画素に起因する欠陥信号を検出する検出手段と、該欠陥信号を補正する補正手段とを具備する撮像装置。
IPC (3)：
H04N 5/335 ,  G06T 1/00 460 ,  H04N 1/028
FI (4)：
H04N 5/335 P ,  H04N 5/335 R ,  G06T 1/00 460 E ,  H04N 1/028 Z
F-Term (30)：
5B047AB02 ,  5B047BB04 ,  5B047BC05 ,  5B047BC06 ,  5B047CA06 ,  5B047CB05 ,  5B047CB22 ,  5B047DA06 ,  5B047DC06 ,  5B047EA01 ,  5C024CX22 ,  5C024CX32 ,  5C024CX51 ,  5C024EX15 ,  5C024GY01 ,  5C024HX09 ,  5C024HX29 ,  5C024HX30 ,  5C024HX57 ,  5C051AA01 ,  5C051BA02 ,  5C051DA06 ,  5C051DB01 ,  5C051DB07 ,  5C051DB22 ,  5C051DB26 ,  5C051DC03 ,  5C051DC04 ,  5C051DE04 ,  5C051DE13
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (10)
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