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J-GLOBAL ID:200903014147390285
CT装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
杉谷 勉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001255623
Publication number (International publication number):2003061946
Application date: Aug. 27, 2001
Publication date: Mar. 04, 2003
Summary:
【要約】【課題】 再構成視野に応じた再構成画像を出力した際、偽像の発生しないCT装置を提供する。【解決手段】 この発明の装置は、主検出器42Aとサブ検出器42Bとを備えており、再構成視野をカバーする広がりをもった透過X線を主検出器42Aで検出したとき、主検出器42Aから外れて透過したX線をサブ検出器42Bで検出する。そして、コンボリューション処理を実行するときに不足しがちな再構成視野から外れる部分の透過データを補ってコンボリューションプロファイル(CVP)を作成し、このCVPに基づいて再構成視野に応じた再構成画像を作成する。
Claim (excerpt):
(a)天板に載置した被検体に向けて透過性を有する電磁波を末広がりビーム形状にして照射する照射手段と、(b)前記被検体を挟んで前記照射手段に対向配置され、被検体を透過した電磁波を検出する複数個の検出素子を備えた検出手段と、(c)前記電磁波が前記被検体の周りを走査するように、前記照射手段と前記検出手段とを前記被検体の周りに相対的に回転移動させる第1駆動手段とを備えたCT装置において、前記検出手段は、(d)再構成視野をカバーする広がりをもった電磁波を検出する主検出器と、(e)前記主検出器を外れて透過した電磁波を検出するサブ検出器とを備え、かつ前記サブ検出器の検出素子の密度が前記主検出器のそれよりも小さいことを特徴とするCT装置。
IPC (4):
A61B 6/03 320
, A61B 6/03 321
, A61B 6/03 350
, G01N 23/04
FI (4):
A61B 6/03 320 X
, A61B 6/03 321 Q
, A61B 6/03 350 R
, G01N 23/04
F-Term (25):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA02
, 2G001DA06
, 2G001DA09
, 2G001HA01
, 2G001HA08
, 2G001HA13
, 2G001KA03
, 2G001LA01
, 2G001PA12
, 4C093AA22
, 4C093BA03
, 4C093BA08
, 4C093BA10
, 4C093CA13
, 4C093CA29
, 4C093CA32
, 4C093EA02
, 4C093EB17
, 4C093EC48
, 4C093FA22
, 4C093FA42
, 4C093FD07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (13)
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特公昭61-046138
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特開昭58-032749
-
特開昭59-077836
-
特開昭59-022539
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コンピュータ断層撮影装置
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平11-532258
Applicant:コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
-
3次元X線CT装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-169705
Applicant:株式会社日立メディコ
-
非破壊検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-221084
Applicant:株式会社島津製作所
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X線CT装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-115626
Applicant:株式会社東芝
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X線CTスキャナ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-183866
Applicant:株式会社東芝
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特開昭57-200133
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特開昭57-200131
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特開昭54-054591
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特許第3168824号
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