光ファイバ歪みセンサによる変位測定方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (1)：藤川忠司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002215356
Publication number (International publication number)：2004061112
Application date： Jul. 24, 2002
Publication date： Feb. 26, 2004
Summary：

【課題】光ファイバ歪みセンサにより、測定対象物の変位位置及び変位量と共に変位方向を精度よく検知する手段を提供する。【解決手段】パイプ1の周囲に、光ファイバからなる軸線方向に沿う第1〜第4の導光路F1〜F4が順次に90°の位相差で等配付設された光ファイバ歪みセンサS1を用い、測定される歪み位置における第1導光路F1の歪み値をε1 、第2導光路F1の歪み値をε2 、第3導光路F1の歪み値をε3 、第4導光路F1の歪み値をε4 としたとき、第1導光路F1とパイプ中心Oを結ぶ方向と、変位方向Pとのなす角度θを、次式(1);θ=tan-1〔|ε2 -ε4 |/|ε1 -ε3 |〕・・・(1)にて算定する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

測定対象物の変位に追従して変形可能な棒状体の周囲に、軸線方向に沿う光ファイバからなる第1〜第4の4本の導光路が棒状体中心から等距離で且つ角度90°の位相差で等配付設されてなる光ファイバ歪みセンサを用い、その光ファイバに計測光パルスを入射した際に検出される後方散乱光に基づいて各導光路毎の長手方向の歪み位置と歪み値を測定し、第1導光路の歪み値をε1 、第1導光路に対して棒状体の径方向反対側にある第3導光路の歪み値をε3 、第2導光路の歪み値をε2 、第2導光路に対して棒状体の径方向反対側にある第4導光路の歪み値をε4 としたとき、当該歪み位置の棒状体横断面における第1及び第3導光路を結ぶ方向と測定対象物の変位方向とのなす角度θを、次式(1); θ=tan-1〔|ε2 -ε4 |/|ε1 -ε3 |〕・・・(1) にて算定することを特徴とする光ファイバ歪みセンサによる変位測定方法。

IPC (2)：

G01B11/26 , G01B11/16

FI (2)：

G01B11/26 Z , G01B11/16 Z

F-Term (7)：

2F065AA01 , 2F065AA32 , 2F065AA65 , 2F065BB08 , 2F065CC40 , 2F065FF00 , 2F065LL02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

特開平2-242119
例えば岩盤の掘削孔のような細長い孔の曲率を決定する装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平8-524868 Applicant：レフレクスインストゥルメントアクティエボラーグ
特開昭63-241409

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