質量スペクトル分析の計算方法およびシステム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：高木千嘉 , 結田純次 , 三輪昭次
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2006513396
Publication number (International publication number)：2007525644
Application date： Apr. 28, 2004
Publication date： Sep. 06, 2007
Summary：

生スペクトル・データを処理することによって、較正済み連続スペクトル・データを得ること、較正済みライブラリ・データを形成するために処理されたライブラリ・スペクトル・データを得ること、および、生スペクトル・データを生成した試料内の成分の濃度を決定するために、較正済み連続スペクトル・データと較正済みライブラリ・データとの間で、好ましくは行列演算(式1)を使用して、最小二乗フィットを実行することを含む、質量分析計からのデータを分析する方法。この方法に従って動作する質量分析計システム(図1)、変換された質量スペクトルのデータ・ライブラリ、およびこのデータ・ライブラリを作る方法。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

質量分析計からのデータを分析する方法であって、生スペクトル・データを処理することによって、較正済み連続スペクトル・データを得ること、較正済みライブラリ・データを形成するために処理されたライブラリ・スペクトル・データを得ること、および、生スペクトル・データを生成した試料内の成分の濃度を決定するために、較正済み連続スペクトル・データと較正済みライブラリ・データとの間で最小二乗フィットを実行することを含む方法。

IPC (4)：

G01N 27/62 , G01N 30/72 , G01N 27/447 , G06F 19/00

FI (5)：

G01N27/62 D , G01N27/62 X , G01N30/72 C , G01N27/26 331E , G06F19/00 600

F-Term (20)：

2G041AA06 , 2G041CA01 , 2G041CA02 , 2G041DA04 , 2G041DA05 , 2G041FA11 , 2G041FA12 , 2G041FA21 , 2G041GA02 , 2G041GA03 , 2G041GA05 , 2G041GA06 , 2G041HA01 , 2G041HA02 , 2G041JA03 , 2G041KA01 , 2G041LA06 , 2G041LA08 , 2G041LA10 , 5C038HH28

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

米国仮出願第60/466010号
米国仮出願第60/466011号
米国仮出願第60/466012号

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Cited by examiner (2)

SIM法を用いたクロマトグラフ質量分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-292301 Applicant：株式会社島津製作所
特許第6188064号

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

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