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J-GLOBAL ID：200903014607392435

写真測量用画像処理装置、写真測量用画像処理方法および写真測量用画像処理プログラムを格納した記憶媒体

Inventor：
若代 滋

About 若代 滋


Applicant, Patent owner：
旭光学工業株式会社

About 旭光学工業株式会社


Agent (1)： 松浦 孝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999252229
Publication number (International publication number)：2001074453
Application date： Sep. 06, 1999
Publication date： Mar. 23, 2001
Summary：
【要約】【課題】 基準点の高精度な写真座標を容易に求め、カメラパラメータおよび測量図の精度を向上させるとともに測量作業を簡略化する。【解決手段】 画像IM1は、J×K画素分の輝度値のデータを有する。画像IM1内に黒色のターゲットを写し込む。ターゲットに白色の基準点22、24および26と3つの白色の補助点を設ける。基準点22、24、26および補助点を2値化処理等によって自動抽出し、それぞれ重心の座標を算出する。画像IMに写真座標系(Xa,Ya)を定義し、基準点22、24、26および補助点の写真座標を決定する。基準点22、24、26および補助点の写真座標と、ターゲットの寸法形状に基づいて、高精度のカメラパラメータを算出する。
Claim (excerpt)：
所定の寸法形状のターゲットを共通に含む複数の画像のそれぞれについて、前記ターゲットに設けられ他の被写体よりも相対的に高い輝度の表面を有する複数の基準点の座標に基づいて、各画像を撮影したカメラの位置およびその光軸の傾きを含むカメラパラメータを算出し、前記画像内の共通の物点を当該各画像について指定し、前記カメラパラメータを用いて前記物点の3次元座標を算出し、この3次元座標に基づいて測量図を生成する写真測量用画像処理装置であって、各画像を構成する画素の輝度情報を得る輝度情報取得手段と、各画像において、前記ターゲットに相当する図形を含んだ領域を外接矩形候補として検出する外接矩形候補検出手段と、前記外接矩形候補のうちの1つを選択外接矩形候補に定め、この選択外接矩形候補を構成する画素をその輝度情報に応じて2つの種類に種別し得る閾値候補を検出する閾値候補検出手段と、前記閾値候補のうちの1つを選択閾値候補に定め、前記選択外接矩形候補において、前記選択閾値候補より高い輝度情報を有する画素が連続する領域を1つのグループとして抽出する第1のグループ抽出手段と、前記第1のグループ抽出手段により抽出された高い輝度情報のグループが前記基準点に一致するように、前記選択外接矩形候補および前記選択閾値候補を変更する変更手段と、前記閾値候補検出手段および前記第1のグループ抽出手段および前記変更手段によって決定された前記グループに関して、前記画像における重心の座標をそれぞれ算出し、対応する前記基準点の座標として定める座標算出手段とを備えることを特徴とする写真測量用画像処理装置。
IPC (4)：
G01C 11/00 ,  G01B 11/00 ,  G01C 15/06 ,  G06T 7/00
FI (4)：
G01C 11/00 ,  G01B 11/00 H ,  G01C 15/06 T ,  G06F 15/62 415
F-Term (24)：
2F065AA03 ,  2F065CC40 ,  2F065DD03 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065KK02 ,  2F065QQ04 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ43 ,  2F065RR02 ,  2F065UU05 ,  5B057AA13 ,  5B057AA20 ,  5B057BA30 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC06 ,  5B057DC09
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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