検出器のセル間ばらつきを監視する方法及び計算機式断層撮影システム

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：生沼徳二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999232228
Publication number (International publication number)：2000079114
Application date： Aug. 19, 1999
Publication date： Mar. 21, 2000
Summary：

【要約】【課題】計算機式断層撮影(CT)システム等のイメージング・システムにおいて、検出器の老朽化によるセル間ばらつきを補正する。【解決手段】チャネルの相対ゲインを測定するアルゴリズムを定期的に実行する。ゲインは、例えば空気走査からの信号を記録して共通の基準に正規化することにより測定する。正規化過程の一部は、X線ビームの非一様性、例えばヒール効果を扱うことを含む。zにおけるX線束のプロファイルは、x方向において緩やかに変化しており、xにおける低域フィルタ処理によって得られるものと仮定する。次いで、正規化後の値を予め決定されている規格値と比較し、いずれかの特定のセルが規格値パラメータの範囲内になければ、このようなセルが存在するモジュールを交換する。また、傾向分析を行って、検出器が規格値に対して不適格となる時期を予測して、不良が生ずる前に検出器の交換を行えるようにする。

Claim (excerpt)：

X線源がイメージング平面に沿ってX線ビームを形成し且つ検出器がz軸方向に延在している複数の検出器セルを含んでいる計算機式断層撮影システムで、該検出器におけるセル間ばらつきを監視する方法であって、走査を実行する工程と、前記検出器セルからデータを取得する工程と、該セル・データを規格値と比較する工程とを備えている当該方法。

IPC (2)：

A61B 6/03 320 , A61B 6/03 350

FI (2)：

A61B 6/03 320 Y , A61B 6/03 350 H

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (14)

X線CTスキャナ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-183866 Applicant：株式会社東芝
特開昭59-103651
特開昭59-103651

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