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J-GLOBAL ID：200903014949267314

光学測定用基材

Inventor： 中村 史夫 ,  塚本 遵 ,  信正 均 ,  真多 淳二
Applicant, Patent owner： 東レ株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005024912
Publication number (International publication number)：2005249776
Application date： Feb. 01, 2005
Publication date： Sep. 15, 2005
Summary：

【課題】 検出時のS/N比が良好な光学測定用基材を提供する。【解決手段】 物質の存在有無を光で検出する方法に用いる基材であって、カーボンナノチューブ、カーボンナノチューブの誘導体、フラーレン、およびフラーレンの誘導体からなる群より1種類以上選択される物質を含有していることを特徴とする光学測定用基材。【選択図】 なし

Claim (excerpt)：

物質の存在有無を光で検出する方法に用いる基材であって、カーボンナノチューブ、カーボンナノチューブの誘導体、フラーレン、およびフラーレンの誘導体からなる群より1種類以上選択される物質を含有していることを特徴とする光学測定用基材。

IPC (4)：

G01N21/64 ,  C01B31/02 ,  C12M1/00 ,  C12N15/09

FI (4)：

G01N21/64 F ,  C01B31/02 101F ,  C12M1/00 A ,  C12N15/00 F

F-Term (27)：

2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA04 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043GB21 ,  2G043LA01 ,  2G043MA04 ,  4B024AA11 ,  4B024AA20 ,  4B024CA09 ,  4B024HA12 ,  4B029AA07 ,  4B029AA23 ,  4B029BB20 ,  4B029CC08 ,  4B029FA15 ,  4G146AA07 ,  4G146AA11 ,  4G146AA17 ,  4G146BA04 ,  4G146CB10 ,  4G146CB17 ,  4G146CB23 ,  4G146CB35

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• マイクロチップ用プラスチック基板
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-331242   Applicant：住友ベークライト株式会社

Cited by examiner (5)

• アモルファスカーボン基材
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-016950   Applicant：クラスターテクノロジー株式会社
• カーボンナノチューブ含有ペースト、カーボンナノチューブ分散コンポジットおよびカーボンナノチューブ分散コンポジットの製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-257617   Applicant：東レ株式会社
• 炭素質材料の処理方法、カーボンナノチューブ分散液、溶液を得る方法。
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-330395   Applicant：東レ株式会社
• 光学計測用炭素基板とその製造方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-366197   Applicant：三菱鉛筆株式会社
• バイオマイクロアレイ用基板およびバイオマイクロアレイ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-112086   Applicant：大日本印刷株式会社