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J-GLOBAL ID:200903015021110976

PCI測定信号およびOCT・A走査信号における分散の立体的可変相関核による後からの数値補償

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 松田 省躬
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002151650
Publication number (International publication number):2003035659
Application date: May. 27, 2002
Publication date: Feb. 07, 2003
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】光線通過媒質の分散は、コヒーレント長を拡大させOCTの深部分解能を低下させている。【解決手段】z方向の測定軸に沿ってそれぞれz方向に反射する光線の唯一つのスポット箇所についての干渉計信号と、それに対応する同分散値を持つ立体的可変相関核とを相関させることによって、分散の影響を後からの補償で除去する、短コヒーレンス干渉計および/またはOCT干渉計の信号における分散補償のための方法および/または装置を提供する。
Claim (excerpt):
z方向の測定軸に沿ってそれぞれz方向に反射する光線の唯一つのスポット箇所についての干渉計信号と、それに対応する同分散値を持つ立体的可変相関核とを相関させることによって、分散の影響を、後からの補償で除去することを特徴とする、短コヒーレンス干渉計および/またはOCT干渉計の信号における分散補償のための方法および/または装置
IPC (3):
G01N 21/17 620 ,  A61B 3/12 ,  G01N 21/45
FI (3):
G01N 21/17 620 ,  G01N 21/45 A ,  A61B 3/12 E
F-Term (15):
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059BB14 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059EE10 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM10
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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