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J-GLOBAL ID:200903015091290041

マークエッジ記録方法及びその装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 柏木 明 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992034624
Publication number (International publication number):1993234079
Application date: Feb. 21, 1992
Publication date: Sep. 10, 1993
Summary:
【要約】【目的】 記録データパターンによってエッジ位置のずれ量が異なるような場合であっても、記録マークのエッジ位置を正確に制御できるようにすること。【構成】 光記録媒体上に強度変調させたレーザ光を照射して、長さが情報を担う記録マークを形成することにより情報を記録するようにしたマークエッジ記録方法において、書込み対象の記録パルス長L0 、この記録パルス直前のブランク長L1 及び1つ前の記録パルス長L2 を算出し、これらの長さL0,L1,L2 に応じて前記書込み対象の記録パルスに対するパルス幅及び出力タイミングの補正値を設定し、この補正値に従い書込み対象の記録パルスのエッジ位置を補正して記録するようにした。
Claim (excerpt):
光記録媒体上に強度変調させたレーザ光を照射して、長さが情報を担う記録マークを形成することにより情報を記録するようにしたマークエッジ記録方法において、書込み対象の記録パルス長L0 、この記録パルス直前のブランク長L1 及び1つ前の記録パルス長L2 を算出し、これらの長さL0,L1,L2 に応じて前記書込み対象の記録パルスに対するパルス幅及び出力タイミングの補正値を設定し、この補正値に従い書込み対象の記録パルスのエッジ位置を補正して記録するようにしたことを特徴とするマークエッジ記録方法。
IPC (2):
G11B 7/00 ,  G11B 7/125
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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