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J-GLOBAL ID:200903015835973894

小型材料試験装置および材料試験方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 村瀬 一美
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999107107
Publication number (International publication number):2000298087
Application date: Apr. 14, 1999
Publication date: Oct. 24, 2000
Summary:
【要約】【目的】 微小な大きさの試料の材料試験を行う。材料試験装置自体を小型化する。【構成】 材料試験装置1は、試験台6上に固着され試料2の一端側を支持する固定支持手段3と、試験台6上に軸方向に移動可能に設けられ試料2の他端側を支持する可動支持手段4と、試験台6上に一端が固定されるとともに他端が可動支持手段4に軸方向が一致しあるいは平行となるように直接あるいは間接的に接続される圧電アクチュエータ5とを備え、小型に構成されている。この小型材料試験装置1は、電圧変化時の圧電アクチュエータ5の伸縮作用によって可動支持手段4を軸方向へ移動させ試料2に垂直荷重をかけることができる。
Claim (excerpt):
試験台上に固着され試料の一端側を支持する固定支持手段と、前記試験台上に軸方向に移動可能に設けられ前記試料の他端側を支持する可動支持手段と、前記試験台上に一端が固定されるとともに他端が前記可動支持手段に軸方向が一致しあるいは平行となるように直接あるいは間接的に接続される圧電アクチュエータとを備え、電圧変化時の前記圧電アクチュエータの伸縮作用によって前記可動支持手段を軸方向へ移動させ前記試料に垂直荷重をかけることを特徴とする小型材料試験装置。
IPC (2):
G01N 3/08 ,  G01B 7/16
FI (2):
G01N 3/08 ,  G01B 7/16
F-Term (16):
2F063AA26 ,  2F063EC00 ,  2F063EC22 ,  2G061AA01 ,  2G061AA02 ,  2G061AB02 ,  2G061AB07 ,  2G061CA11 ,  2G061CA20 ,  2G061CB01 ,  2G061DA03 ,  2G061DA08 ,  2G061EA01 ,  2G061EA02 ,  2G061EA04 ,  2G061EB05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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