分析システム、情報処理装置、アクティビティ分析方法、およびプログラム

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (5)：上野剛史 , 太佐種一 , 市位嘉宏 , 坂口博 , 間山進也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008051431
Publication number (International publication number)：2009211211
Application date： Feb. 29, 2008
Publication date： Sep. 17, 2009
Summary：

【課題】分析システム、情報処理装置、アクティビティ分析方法、およびプログラムを提供すること。【解決手段】ネットワーク上での情報発生源のアクティビティを分析する情報処理装置であって、ネットワーク上で伝送される情報からキーワードを抽出して登録するキーワード情報記憶部214と、情報に関連したネットワーク上での行動タイプ、ユーザを固有に識別するユーザID、および情報を対応付けて登録する行動ログ・データから、属性指定キーワードにより特徴付けられた属性を有する情報に関連して行動ログ・データを生成し、ネットワーク上での生成または編集に対応して情報をノードとして登録し、ノードの時系列的に有向リンクで連結した有向グラフを生成する情報伝播グラフ取得部212と、有向グラフのノードが情報発生源として機能する尺度であるアクティビティを数値化する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

ネットワーク上での情報発生源のアクティビティを分析する分析システムであって、前記分析システムは、前記ネットワーク上で伝送される情報から情報特性値を抽出し、情報識別値に対応付けて前記情報特性値を登録する索引リストを生成する属性抽出部と、前記情報に関連した前記ネットワーク上での行動タイプ、ユーザを固有に識別するユーザID、および前記情報を対応付けて記録する行動履歴データから、設定条件により抽出された属性を有する前記情報に関連して前記行動履歴データを検索し、前記ネットワーク上での、前記情報の生成または編集に対応して前記情報をノードとして登録し、前記行動タイプを使用して、前記ノードの時系列的な生成を示すリンクで連結したグラフを生成する情報伝播グラフ取得部と、前記グラフの前記ノードの前記ネットワーク上でのアクティビティを示す尺度であるノード特徴量を計算し、前記ノード特徴量を前記グラフのリンクに基づいて積算し前記ユーザの前記情報発生源としてのアクティビティを数値化する特徴ユーザ計算部とを含む、分析システム。

IPC (3)：

G06Q 50/00 , G06F 19/00 , G06F 13/00

FI (3)：

G06F17/60 150 , G06F19/00 130 , G06F13/00 540R

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

情報利用状況分析表示装置および方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-072371 Applicant：富士ゼロックス株式会社
ユーザ興味分析装置、方法、プログラム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-085174 Applicant：ヤフー株式会社
複合的な情報間の関連性識別方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-031069 Applicant：日本電信電話株式会社

Cited by examiner (4)

コミュニケーション分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-094065 Applicant：富士ゼロックス株式会社
チャットログ管理システム、サーバ装置、及び、チャットログ管理方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-062105 Applicant：三菱電機インフォメーションシステムズ株式会社
人物間の関連性を評価するシステム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2005-318431 Applicant：インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション

Show all

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

Return to Previous Page