Pat

J-GLOBAL ID：200903016463094577

材料、特にプラスチック材料の種類の識別方法

Inventor： ルッツ クロイヒビッヒ ,  ハルトムート ルフト
Applicant, Patent owner： エルエルアー ウムベルトテヒニシェ アナリーティク ウント アンラーゲン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
Agent (1)： 尾股 行雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997002694
Publication number (International publication number)：1997297062
Application date： Jan. 10, 1997
Publication date： Nov. 18, 1997
Summary：

【要約】【課題】誤判定の割合を少なくし、迅速に判定できるプラスチック材料の種類の識別方法を提供する。【解決手段】未知試料に赤外線を照射してスペクトルを測定し、このスペクトルを既知材料のスペクトルと比較し、スペクトルの多数の波長区分についてスペクトルの勾配またはスペクトルの1次微分をそれぞれ求め、求めた各勾配または各1次微分の数値を正規化された多段階の数値範囲の1つにそれぞれ分類し、測定されたスペクトルの複数の波長区分について分類されたそれぞれの勾配クラスを、既知材料の予め評価されたスペクトルと同じ複数の波長区分において分類されたそれぞれの勾配クラスと比較し、個々の勾配クラスの類似性と相違性を勾配クラス間の勾配隔たりとして求める。大きさの異なる勾配隔たりに異なる重み付けをすることもできる。これらの方法によれば、スペクトルの差が少ない場合でも種類の識別が確実にできる。

Claim (excerpt)：

未知試料に赤外線を照射してスペクトルを測定し、このスペクトルを既知材料のスペクトルと比較する、材料、特にプラスチック材料の種類の識別方法において、前記の比較は、スペクトルの多数の波長区分についてスペクトルの勾配またはスペクトルの1次微分をそれぞれ求め、求めた各勾配または各1次微分の数値を正規化された多段階の数値範囲の1つにそれぞれ分類し、次いで、測定されたスペクトルの複数の波長区分について分類されたそれぞれの勾配クラスを、既知材料の予め評価されたスペクトルと同じ複数の波長区分において分類されたそれぞれの勾配クラスと比較し、個々の勾配クラスの類似性と相違性を該勾配クラス間の勾配隔たりとして求め、既知材料のスペクトルと未知材料のスペクトルとの個々の勾配隔たりの和、および勾配隔たりの和の最小値の存在を、既知材料に対する未知材料の分類のための基準として用いることを特徴とする材料、特にプラスチック材料の種類の識別方法。

IPC (2)：

G01J 3/42 ,  G01N 21/35

FI (2)：

G01J 3/42 U ,  G01N 21/35 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• プラスチックの種類判定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-021865   Applicant：東亜電波工業株式会社, 社団法人プラスチック処理促進協会
• プラスチック物品の種類判定位置検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-321038   Applicant：東亜電波工業株式会社
• 特開平1-287452