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J-GLOBAL ID：200903016624021710

角度測定器

Inventor： 藤井 雄作 ,  塩田 ふゆひこ
Applicant, Patent owner： 工業技術院長 ,  藤井 雄作
Agent (1)： 工業技術院計量研究所長
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997049772
Publication number (International publication number)：1998232121
Application date： Feb. 18, 1997
Publication date： Sep. 02, 1998
Summary：

【要約】【課題】 被測定物の所望の位置に測定光線を容易に且つ確実に当てることを可能とし、また剛体の姿勢を完全に記述するのに十分な3自由度の角度成分すべてを同時に測定することを可能とする。【解決手段】 光源2から出射された平行光線をビームスプリッタ3により測定器1の外部に導き、被測定物体4の表面で反射して再び測定器1に入射してくる光線を凸レンズ5を通過させ、その凸レンズ5の焦点面における位置情報を得て被測定物体4の角度を測定するように構成されてなる角度測定器1において、凸レンズ5の後方に光路を2分割するもう一つのビームスプリッタ6を配置し、凸レンズ5の焦点位置及び凸レンズ5の焦点位置よりも後方の被測定物体4の実像が結像する位置にそれぞれCCDカメラ7,8などを配置し、凸レンズ5の焦点位置より後方の位置にできる被測定物体4の実像を利用する。

Claim (excerpt)：

光源から出射された平行光線をビームスプリッタにより測定器の外部に導き、被測定物体の表面で反射して再び測定器に入射してくる光線を凸レンズを通過させ、その凸レンズの焦点面における位置情報を得て被測定物体の角度を測定するように構成されている角度測定器において、凸レンズの焦点面における位置情報に加え、凸レンズの焦点位置よりも後方の位置にできる被測定物体の実像の情報を得るようにしたことを特徴とする角度測定器。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭62-075303
  
• 面方位測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-319902   Applicant：ホーヤ株式会社