検査システム及びプリント回路板の外観検査システム並びにプリント回路板の外観検査端末装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997168701
Publication number (International publication number)：1999014552
Application date： Jun. 25, 1997
Publication date： Jan. 22, 1999
Summary：

【要約】【課題】複数の検査工程を経る検査において、検査精度を高めるとともに、各検査工程における検査時間のバラツキを無くし、検査工程の管理も含めて検査効率を向上させる、検査システム及びプリント回路板の外観検査システム並びにプリント回路板の外観検査端末装置を提供する。【解決手段】複数の検査端末装置がネットワークを介してサーバーに接続された検査システムであって、各検査工程にて検査される検査データを、サーバーの検査データ格納部に初期に登録された検査データから、前工程で不合格となった検査データのみを次工程へ送信して検査を行う。

Claim (excerpt)：

複数の検査端末装置(2)がネットワーク(3)を介してサーバー(4)に接続された検査システムであって、各検査工程にて検査される検査データを、サーバー(4)の検査データ格納部(5)に初期に登録された検査データから、前工程で不合格となった検査データに基づいて検査を行う、ことを特徴とする検査システム。

IPC (3)：

G01N 21/88 , H05K 13/08 , G01R 31/02

FI (3)：

G01N 21/88 F , H05K 13/08 D , G01R 31/02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

プリント板ユニット外観検査システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-222871 Applicant：富士通株式会社
特開昭63-175774
超小型近接撮影装置を用いたIC観察装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-055446 Applicant：株式会社ハイロックス

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