Pat
J-GLOBAL ID：200903016681209530

製造品質の管理方法

Inventor：
廣井 健二

About 廣井 健二


Applicant, Patent owner：
本田技研工業株式会社

About 本田技研工業株式会社


Agent (1)： 江原 望 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001155487
Publication number (International publication number)：2002351537
Application date： May. 24, 2001
Publication date： Dec. 06, 2002
Summary：
【要約】【課題】 新規品に伴う製造品質の管理を熟練者でなくとも容易に行え、製造現場での品質検証を要領良く効率的に行うことができる製造品質の管理方法を供する。【解決手段】 故障現象をトップ事象として要因を分析し因果関係を多分枝に構成して端末の基本原因に関連させたフォールトツリーを作成し、現行品についての過去の故障の現象,該故障の原因および該故障原因の発生頻度等のデータを集計し、前記集計したデータを前記フォールトツリーの各要素に対応させてデータベースを構築し、新規品の現行品からの変化点を解析し、前記変化点の解析結果を前記データベースのフォールトツリーに照合して重点管理項目を選定する製造品質の管理方法。
Claim (excerpt)：
故障現象をトップ事象として要因を分析し因果関係を多分枝に構成して端末の基本原因に関連させたフォールトツリーを作成し、現行品についての過去の故障の現象,該故障の原因および該故障原因の発生頻度等のデータを集計し、前記集計したデータを前記フォールトツリーの各要素に対応させてデータベースを構築し、新規品の現行品からの変化点を解析し、前記変化点の解析結果を前記データベースのフォールトツリーに照合して重点管理項目を選定することを特徴とする製造品質の管理方法。
IPC (5)：
G05B 23/02 301 ,  G05B 19/418 ,  G06F 17/30 170 ,  G06F 17/60 106 ,  G06F 17/60 138
FI (5)：
G05B 23/02 301 Y ,  G05B 19/418 Z ,  G06F 17/30 170 Z ,  G06F 17/60 106 ,  G06F 17/60 138
F-Term (11)：
3C100AA58 ,  3C100BB27 ,  3C100EE01 ,  5B075ND20 ,  5B075ND23 ,  5B075ND35 ,  5B075PQ00 ,  5B075PR03 ,  5B075UU22 ,  5H223AA05 ,  5H223EE30
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM