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J-GLOBAL ID:200903016786308541
蛍光診断情報生成方法および装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
柳田 征史 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002152605
Publication number (International publication number):2003339623
Application date: May. 27, 2002
Publication date: Dec. 02, 2003
Summary:
【要約】【課題】 励起光が照射された被測定部から発せられた蛍光に基づいて被測定部の組織性状を識別する際に、粘液や残渣等の妨害因子が付着している非清浄組織と、清浄な病変組織との誤識別を低減し、組織性状の識別精度を向上する。【解決手段】 蛍光診断モードにおいては、410nmの励起光Le1が照射された観察部1から発せられた蛍光をCCD撮像素子308 により撮像し、蛍光収率演算値(Le1)を求め、該蛍光収率演算値(Le1)に基づいて色情報を作成した蛍光診断画像をモニタ70上に表示する。妨害因子影響度判定モードにおいては、500nmの励起光Le2が照射された観察部1から発せられた蛍光から規格化蛍光演算値(Le2)を求め、該規格化蛍光演算値(Le2)から算出した妨害因子影響度に基づいて色情報を作成した妨害因子影響度判定画像をモニタ70上に表示する。観察者は、両画像から清浄な病変組織と非清浄組織とを識別する。
Claim (excerpt):
第1の励起光が照射された被測定部から発せられた蛍光の蛍光情報を検出し、この検出された前記蛍光情報に基づいて第1の特徴量を取得し、この第1の特徴量を反映する第1の蛍光診断情報を作成して出力し、第2の励起光が照射された前記被測定部から発せられた蛍光の蛍光情報を検出し、この検出された前記蛍光情報に基づいて第2の特徴量を取得し、この第2の特徴量を反映する第2の蛍光診断情報を作成して出力する蛍光診断情報生成方法であって、前記第1の励起光の波長が、該第1の励起光を組織性状が異なる清浄な被測定部へ照射した場合には、それぞれの清浄な被測定部から発せられる蛍光の蛍光情報に基づいて取得された第1の特徴量が異なる波長であり、前記第2の励起光の波長が、該第2の励起光を清浄な被測定部と非清浄な被測定部に照射した場合には、それぞれの被測定部から発せられる蛍光の蛍光情報に基づいて取得された第2の特徴量が異なる波長であることを特徴とする蛍光診断情報生成方法。
IPC (2):
A61B 1/00 300
, G01N 21/64
FI (2):
A61B 1/00 300 D
, G01N 21/64 Z
F-Term (31):
2G043BA16
, 2G043CA05
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA05
, 2G043FA06
, 2G043GA01
, 2G043GB01
, 2G043GB18
, 2G043GB19
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA05
, 2G043HA09
, 2G043JA03
, 2G043KA02
, 2G043KA05
, 2G043LA03
, 2G043NA01
, 2G043NA06
, 4C061AA00
, 4C061BB02
, 4C061CC06
, 4C061DD00
, 4C061HH51
, 4C061NN01
, 4C061NN05
, 4C061QQ04
, 4C061QQ07
, 4C061SS21
, 4C061WW17
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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撮像装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-116401
Applicant:シリックス・テクノロジーズ・コーポレーション
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蛍光画像化用内視鏡
Gazette classification:公表公報
Application number:特願2000-528202
Applicant:マサチユセツツ・インスチチユート・オブ・テクノロジイ
-
蛍光検出装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-321393
Applicant:富士写真フイルム株式会社
-
蛍光診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-044462
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
光学的微細プローベ及び材料のスペクトル分析方法
Gazette classification:公表公報
Application number:特願平9-507903
Applicant:メディスペクトラ・インコーポレーテッド
-
特表平6-503979
-
蛍光診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-009639
Applicant:富士写真フイルム株式会社
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Article cited by the Patent:
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