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J-GLOBAL ID：200903017217499203

超音波診断装置

Inventor： 奥野 喜之 ,  権藤 雅彦
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 伊藤 進
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997006684
Publication number (International publication number)：1998057374
Application date： Jan. 17, 1997
Publication date： Mar. 03, 1998
Summary：

【要約】【課題】 サイドローブ等の不要応答成分を抑制でき、分解能が良いBモード像が得られる超音波診断装置を提供する。【解決手段】 超音波プローブ2の振動素子群を形成する複数の振動素子5-1〜5-5は時分割で順次駆動され、順次得られたエコー信号は乗算器14-1,14-2等で直交検波された後、A/D変換器16-1,16-2により複素データに変換され、実数データ成分及び虚数データ成分はそれぞれ波面メモリ17-1,17-2に格納され、波面ローカスLUT18により観測点を焦点としたアドレス情報により波面ローカスLUT18から読み出された各データは位相補正回路19に入力され、各振動素子の遅延時間に対応した位相を一致させる位相の回転補正がされた後、加算してビーム合成を行うことにより、位相精度の高い、つまり分解能が高いBモード像を得ることを可能にした。

Claim (excerpt)：

複数の超音波振動素子をアレイ状に並べた超音波振動素子群と、前記複数の超音波振動素子を送信信号で順次駆動して得られたエコー信号からディジタルの複素データを生成する複素データ生成回路と、前記複素データを格納するメモリと、前記メモリに格納された複素データを読み出し、各超音波振動素子の位置関係で決まる遅延時間に対応して前記複素データにおける対となる実成分データ及び虚成分データの各位相を1つの基準の位相に揃えるように複素ベクトル的な位相補正を行う位相補正回路と、前記位相補正回路によりそれぞれが揃えられた各複素データから反射強度を算出するための合成処理を行うビーム合成処理回路と、を有する超音波診断装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 超音波診断装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-277805   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 受波整相回路及びそれを用いた超音波撮像装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-156124   Applicant：株式会社日立メディコ
• 超音波診断装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-062444   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 特開平2-297349