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J-GLOBAL ID:200903017625269941
磁気特性解析システム及び磁気特性解析方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
國分 孝悦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005073336
Publication number (International publication number):2006258480
Application date: Mar. 15, 2005
Publication date: Sep. 28, 2006
Summary:
【課題】 磁束密度の高調波成分を可及的に正確に解析することができるようにする。【解決手段】 電磁場解析装置100は、解析対象の装置における電磁場解析を行い、磁束密度の時系列データを求める。2次元磁気測定装置200は、その磁束密度の時系列データに合わせて算出した電圧指示値を励磁コイル207a〜207dに印加して、試料400における磁束密度Bx、Byと磁界Hx、Hyを測定する。このように電磁場解析装置100で電磁場解析されることにより得られた磁束密度の時系列データは、高調波成分を含むものであるので、この高調波成分をも考慮して電圧指示値を設定することができる。これにより、高調波成分を含んだ回転磁界や交番磁界が発生する場合でも電磁場解析を可及的に高精度に行うことができる。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
解析対象となる領域の電磁場を解析して、前記解析対象となる領域の磁束密度及び磁界の時系列データを求める電磁場解析手段と、
前記電磁場解析手段により求められた磁束密度の時系列データに基づく磁束密度、又は磁界の時系列データに基づく磁界を磁性体に与えて、前記磁性体の磁束密度と磁界とを測定する磁気特性測定手段と、
前記磁気特性測定手段により測定された磁束密度と磁界とを用いて、前記磁性体の磁気特性を求める磁気特性解析手段とを有することを特徴とする磁気特性解析システム。
IPC (1):
FI (1):
F-Term (5):
2G017AA01
, 2G017AA07
, 2G017BA03
, 2G017BA11
, 2G017BA16
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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磁界解析方法、装置、コンピュータプログラム、及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-351641
Applicant:新日本製鐵株式会社
-
高周波磁気特性測定システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-037816
Applicant:財団法人韓国電気研究所
-
磁気測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-207385
Applicant:新日本製鐵株式会社
-
電動機固定子鉄心の動的磁気特性測定装置および測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-163164
Applicant:川崎製鉄株式会社
-
電磁場解析の鉄損評価システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-287415
Applicant:新日本製鐵株式会社
-
電磁場解析システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-280231
Applicant:新日本製鐵株式会社
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Cited by examiner (5)
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高周波磁気特性測定システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-037816
Applicant:財団法人韓国電気研究所
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磁気測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-207385
Applicant:新日本製鐵株式会社
-
電動機固定子鉄心の動的磁気特性測定装置および測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-163164
Applicant:川崎製鉄株式会社
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電磁場解析の鉄損評価システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-287415
Applicant:新日本製鐵株式会社
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電磁場解析システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-280231
Applicant:新日本製鐵株式会社
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Article cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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