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J-GLOBAL ID:200903018266947617

Cスキャン超音波探傷方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小林 英一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996063015
Publication number (International publication number):1997257759
Application date: Mar. 19, 1996
Publication date: Oct. 03, 1997
Summary:
【要約】【課題】 圧延金属板の切出しサンプルのなかの10〜 100μm 程度の内部欠陥の検出に用いるのに好適なCスキャン超音波探傷方法および装置を提供する。【解決手段】 超音波送信子21からの線状に集束した超音波ビームと超音波受信子22の線状に集束した受信ビームとが重なるようにして探傷する第1の工程と、超音波送信子21からの線状に集束した超音波ビームと超音波受信子22の線状に集束した受信ビームとが直交するようにして探傷する第2の工程とを組み合わせることにより、被検査板10の内部欠陥を表面近傍の不感帯なしで、形態まで含め検出可能とする。
Claim (excerpt):
液中に浸漬された被検査板を挟んで、ラインフォーカス型の超音波送信子とラインフォーカス型の超音波受信子とを対向配置して走査するとともに、前記超音波送信子から線状に集束した超音波ビームを被検査板内に略垂直に入射し、前記超音波ビームの透過波と前記超音波ビームによって生起された内部欠陥からの反射波とを前記超音波受信子で受信し、受信された信号に基づいて被検査板の内部欠陥を検出する方法であって、前記超音波送信子からの線状に集束した超音波ビームと前記超音波受信子の線状に集束した受信ビームとが重なるようにして探傷する第1の工程と、前記超音波送信子からの線状に集束した超音波ビームと前記超音波受信子の線状に集束した受信ビームとが直交するようにして探傷する第2の工程と、からなることを特徴とするCスキャン超音波探傷方法。
IPC (4):
G01N 29/04 503 ,  G01N 29/08 501 ,  G01N 29/10 501 ,  G01N 29/24 502
FI (4):
G01N 29/04 503 ,  G01N 29/08 501 ,  G01N 29/10 501 ,  G01N 29/24 502
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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