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J-GLOBAL ID:200903018371254996

中間統計データに基づいて試料を特徴付けする方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 塩澤 寿夫 (外2名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1999501073
Publication number (International publication number):2002505742
Application date: Jun. 10, 1998
Publication date: Feb. 19, 2002
Summary:
【要約】ユニットを含む試料を特徴づける方法であって、a)少なくとも1つの測定容積内の前記ユニットによって発光され、散乱され、および/または反射された放射の強度揺らぎを前記ユニットによって発光され、散乱され、および/または反射された放射を検出することができる検出手段によってモニターし、b)前記強度揺らぎから少なくとも2次元同時統計関数からなる中間統計データを求め、c)前記中間統計データからユニットの同時分布に関する情報を決定するステップを含む方法。
Claim (excerpt):
ユニットを含む試料を特徴づける方法であって、 a)少なくとも1つの測定容積内の前記ユニットによって発光され、散乱され、および/または反射された放射の強度揺らぎを前記ユニットによって発光され、散乱され、および/または反射された放射を検出することができる検出手段によってモニターし、 b)前記強度揺らぎから少なくとも2次元同時統計関数からなる中間統計データを求め、 c)前記中間統計データからユニットの同時分布に関する情報を決定するステップを含む方法。
IPC (3):
G01N 21/64 ,  G01N 15/00 ,  G01N 37/00 103
FI (3):
G01N 21/64 F ,  G01N 15/00 A ,  G01N 37/00 103
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

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