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J-GLOBAL ID：200903018507520717

X線量低減方法

Inventor：
トーマス・ルイス・トス

About トーマス・ルイス・トス

, 
ジョナサン・リチャード・シュミット

About ジョナサン・リチャード・シュミット


Applicant, Patent owner：
ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ

About ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ


Agent (1)： 生沼 徳二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995226130
Publication number (International publication number)：1996206107
Application date： Sep. 04, 1995
Publication date： Aug. 13, 1996
Summary：
【要約】【課題】 X線CTシステムによって患者に加えられるX線ビームのX線量を低減する方法を提供する。【解決手段】 2つのほぼ直交するガントリ角度におけるX線ビームの患者減衰量を示すスライスからの患者減衰量データを獲得し、患者に加えられるX線量の低減を示す前記獲得された患者投影データから得られる情報を使用して変調指数(α)を計算し、前記変調指数(α)を使用して、単一のスライスから減衰量データを獲得する間連続したガントリ角度で患者に加えられるX線量を示す1組の値を有する変調プロフィールを計算し、前記変調プロフィールの各値を最小X線量を示す値と比較し、前記変調プロフィール値が小さい場合、前記最小X線量を示す値で前記変調プロフィール値を置き換え、ガントリを回転し、前記変調プロフィールによって示されるように前記加えられたX線量を変調することによりスライス用の減衰量データを獲得する。
Claim (excerpt)：
スライスからの減衰量データの獲得処理の間、X線CTシステムによって患者に加えられるX線ビームのX線量を低減する方法であって、a) 2つのほぼ直交するガントリ角度におけるX線ビームの患者減衰量を示すスライスからの患者減衰量データを獲得し、b) 患者に加えられるX線量の低減を示す前記獲得された患者投影データから得られる情報を使用して変調指数(α)を計算し、c) 前記変調指数(α)を使用して、単一のスライスから減衰量データを獲得する間連続したガントリ角度で患者に加えられるX線量を示す1組の値を有する変調プロフィールを計算し、d) 前記変調プロフィールの各値を最小X線量を示す値と比較し、前記変調プロフィール値が小さい場合、前記最小X線量を示す値で前記変調プロフィール値を置き換え、ガントリを回転し、前記変調プロフィールによって示されるように前記加えられたX線量を変調することによりスライス用の減衰量データを獲得するステップを有する前記方法。
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)
  • 特開昭60-031735
  • X線CT装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-112599   Applicant：株式会社東芝
Cited by examiner (2)
  • 特開2048-031735
  • X線CT装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-112599   Applicant：株式会社東芝

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