光学装置、光スペクトラム・アナライザ及び光信号検出方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：山口邦夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001035863
Publication number (International publication number)：2001255207
Application date： Feb. 13, 2001
Publication date： Sep. 21, 2001
Summary：

【要約】【課題】光スペクトラム・アナライザにおいて、校正光信号及び被試験光信号を同時に検出する。【解決手段】放物面境12は、ファイバ24からの校正光信号39及びファイバ26からの被試験光信号34を受ける。回折格子42は、放物面境12で反射された校正光信号及び試験光信号を受け、試験光信号のスペクトル成分を分離すると共に、校正光信号の2次以上のスペクトル線を放物面境12に戻す。放物面境12は、これら試験光信号及び校正光信号をファイバ30及び32に反射する。試験信号検出器36は、ファイバ30からの試験光信号を検出し、校正信号検出器40は、ファイバ32からの校正光信号を検出する。校正信号検出器40の検出出力に応じて、試験信号検出器36の検出出力を校正できる。

Claim (excerpt)：

限定された1次スペクトル域を有し、校正光信号及び被試験光信号を同時に検出する光学装置であって、光軸及び焦点面を有し、上記校正光信号及び上記被試験光信号を受けるコリメーティング光学素子と、該コリメーティング光学素子の光軸と同一線上の中心軸と、上記コリメーティング光学素子の焦点面内に配置されて入力光ファイバ及び出力光ファイバを各々が有する第1及び第2光ファイバ対とを含み、該第1及び第2ファイバ対の各々の上記入力光ファイバ及び上記出力光ファイバが上記中心軸の各側で対称に配置され、上記第1光ファイバ対の入力ファイバが上記被試験光信号を受信するファイバ・アレイと、上記第2光ファイバ対の入力ファイバに結合され、上記光学装置の1次スペクトル域内の2次以上のスペクトル線を有する校正光信号を発生する光信号源と、上記コリメーティング光学素子からの上記校正光信号及び上記被試験光信号を受け、上記1次スペクトル域にわたって上記光学装置を同調させて、上記被試験光信号のスペクトル成分を分離すると共に、上記校正光信号の2次以上のスペクトル線を通過させる光同調要素と、上記第1光ファイバ対の出力光ファイバに結合され、上記被試験光信号のスペクトル成分に応答し、上記校正光信号の2次以上のスペクトル線には応答しにくい第1光検出器と、上記第2光ファイバ対の出力光ファイバに結合され、上記校正光信号の2次以上のスペクトル線に応答し、上記被試験光信号のスペクトル成分に応答しにくい第2光検出器とを具えた光学装置。

IPC (3)：

G01J 3/02 , G01J 3/18 , G01J 3/36

FI (3)：

G01J 3/02 C , G01J 3/18 , G01J 3/36

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

特開昭63-284429
光波長計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-067325 Applicant：安藤電気株式会社

Cited by examiner (2)

特開昭63-284429
光波長計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-067325 Applicant：安藤電気株式会社

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