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J-GLOBAL ID：200903019074608297

直線パターン識別方法及び装置及びプログラム

Inventor：
森本 正志

About 森本 正志


Applicant, Patent owner：
日本電信電話株式会社

About 日本電信電話株式会社


Agent (1)： 伊東 忠彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004355506
Publication number (International publication number)：2006163916
Application date： Dec. 08, 2004
Publication date： Jun. 22, 2006
Summary：
【課題】 画像パターンに基づき類似する画像をデータベースから検索する際に、幾何学的変換によらず、かつ十分な識別性能を有すると共に、少ない計算量で識別・検索を行う。【解決手段】 本発明は、提示直線パターンを構成する直線のパラメータ集合を取得し、直線パラメータ集合から可能な全ての二直線が成す交点座標とその交差角を算出する交点・交差角を算出し、各々の交点を基準点として該基準点から直線パラメータ集合中の各直線までの距離を算出し、各々の二直線距離比の関数値からなる距離不変量とその二直線が成す交差角の対を直線不変量対として算出し、各交点に対する全ての直線不変量対及び該交点の交差角を一つの不変量セットXとして該パターンの識別子と共にDBに格納し、DBの不変量セットYと不変量セットXを照合することでその類似性スコアを算出し、スコアを判定して類似している場合には不変量セットYの識別子を識別結果として出力する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
複数の直線が描画されている直線パターンの画像を蓄積したデータベースから、ユーザが提示する直線パターンと類似したパターンを含む画像を幾何学的変換によらず識別・検索する直線パターン識別方法において、 パターンを構成する直線のパラメータ集合を取得する直線パラメータ取得手順と、 前記直線パラメータ集合から可能な全ての二直線が成す交点座標とその交差角を算出する交点・交差角算出手順と、 前記交点・交差角算出手順により得られる各々の交点を基準点として、その基準点から前記直線パラメータ集合中の各直線までの距離を算出する距離算出手順と、 前記距離算出手順により得られる各々の二直線距離比の関数値からなる距離不変量と、その二直線が成す交差角の対を直線不変量対として算出する不変量算出手順と、 前記不変量算出手順により得られる各交点に対する全ての直線不変量対及び該交点の交差角を一つの不変量セットとする不変量セット作成手順と、 前記不変量セットXの該パターンの識別子と共にデータベースに格納する不変量セット格納手順と、 前記データベースから格納された任意のパターンに対する不変量セットYを取得する不変量セット取得手順と、 前記不変量セットX及びYを照合することで、その類似性スコアを算出する不変量セット照合手順と、 前記スコアを判定し、類似している場合には不変量セットYの識別子を識別結果として出力する識別結果出力手順と、 更に他の不変量セットに対して識別処理を行うかどうかを判定する識別判定手順と、 を行うことを特徴とする直線パターン識別方法。
IPC (2)：
G06T 7/60 ,  G06T 7/00
FI (4)：
G06T7/60 200G ,  G06T7/60 150B ,  G06T7/60 150P ,  G06T7/00 300F
F-Term (12)：
5L096BA08 ,  5L096FA03 ,  5L096FA10 ,  5L096FA24 ,  5L096FA35 ,  5L096FA66 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69 ,  5L096GA19 ,  5L096GA51 ,  5L096JA03 ,  5L096JA11
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
  • P.V.C. Hough: ”Method and Means for Recognizing Complex Patterns”, U.S. Patent, 3069654, 1962
  • 特許第3448217号「直線による画像の検索方法、検索装置及びそのプログラム記憶媒体」
  • 特許第3510980「直線による画像の検索装置、検索方法及びそのプログラム記憶媒体」
Cited by examiner (10)
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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