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J-GLOBAL ID：200903019122645213

近接場分光分析装置

Inventor：
▲高▼澤 信明

About ▲高▼澤 信明


Applicant, Patent owner：
トヨタ自動車株式会社

About トヨタ自動車株式会社


Agent (4)： 青木 篤 ,  石田 敬 ,  古賀 哲次 ,  西山 雅也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004060569
Publication number (International publication number)：2005249588
Application date： Mar. 04, 2004
Publication date： Sep. 15, 2005
Summary：
【課題】 バックグラウンド光と近接場光とを分離することにより、感度を向上させた近接場光分光分析装置を提供する。【解決手段】 探針Pの先端Tに光Lを照射して発生した近接場光Nを試料Sの表面に照射し、これによる試料Sの表面からの反射光Rを分光分析する近接場分光分析装置において、円錐状遮光壁Kにより少なくとも光照射を受ける探針先端Tの周囲を覆い、円錐状遮光壁Kの先端にあるピンホールHから探針先端Tが露出可能なように探針Pを配置し、遮光壁円錐立体角φの内側に上記ピンホールHを通して探針先端Tに光Lを照するための光源Eを配置し、遮光壁円錐立体角φの外側に試料Sの表面からの反射光Rを検出する検出器Dを配置した。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
探針の先端に光を照射して発生した近接場光を試料表面に照射し、これによる試料表面からの反射光を分光分析する近接場分光分析装置において、 円錐状遮光壁により、少なくとも光照射を受ける探針先端の周囲を覆い、 円錐状遮光壁の先端にあるピンホールから探針先端が露出可能なように探針を配置し、 遮光壁円錐立体角の内側に、探針先端への光照射用の光源を配置し、 遮光壁円錐立体角の外側に、試料表面からの反射光を検出する検出器を配置した ことを特徴とする近接場分光分析装置。
IPC (2)：
G01N13/14 ,  G01N21/27
FI (2)：
G01N13/14 A ,  G01N21/27 C
F-Term (11)：
2G059AA01 ,  2G059CC12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE03 ,  2G059EE12 ,  2G059FF03 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ14 ,  2G059NN01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
  • 近接場分光装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-301989   Applicant：日本分光株式会社
Cited by examiner (2)

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