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J-GLOBAL ID：200903019154531465

因果関係モデル生成方法、因果関係モデル生成装置、原因推定方法、原因推定装置およびデータ構造

Inventor： 木治 潤一
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (7)： 鈴江 武彦 ,  村松 貞男 ,  坪井 淳 ,  橋本 良郎 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  河井 将次
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002285544
Publication number (International publication number)：2004126641
Application date： Sep. 30, 2002
Publication date： Apr. 22, 2004
Summary：

【課題】故障診断のための人の理解し易いデータ構造のデータベースの構築が容易に行え、信頼性のある明確な診断結果を得ることができる因果関係モデル生成方法および装置を提供する。【解決手段】注目事象または原因事象としての事象を、当該事象にかかわる観測対象の構成要素と観測対象の他の構成要素との包含関係、または、当該事象の概念的包含関係が、階層的に表現された属性をもつデータとして表されることを特徴とし、同一とみなす注目事象を要素とする結果の集合と、この結果の集合の各要素の原因事象を要素とする原因の集合とを対応付けて、注目事象と原因事象との間の因果関係を表す当該観測対象の因果関係モデルを生成する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

観測対象の注目事象とその原因となる原因事象との間の因果関係を生成する因果関係モデル生成方法であって、 前記注目事象または前記原因事象としての事象を、当該事象にかかわる前記観測対象の構成要素と前記観測対象の他の構成要素との包含関係、または、当該事象の概念的包含関係が、階層的に表現された属性をもつデータとして表されることを特徴とし、 同一とみなす前記注目事象を要素とする結果の集合と、この結果の集合の各要素の原因事象を要素とする原因の集合とを生成して、前記結果の集合と前記原因の集合とを対応付けることを特徴とする因果関係モデル生成方法。

IPC (1)：

G06N5/04

FI (1)：

G06N5/04 560G

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 知識ベースおよびその構築装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-347932   Applicant：株式会社リコー
• 故障診断装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-059570   Applicant：富士重工業株式会社