Pat
J-GLOBAL ID:200903019295849833

車両用測距性能低下検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 永井 冬紀
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003361878
Publication number (International publication number):2005127781
Application date: Oct. 22, 2003
Publication date: May. 19, 2005
Summary:
【課題】車両などに搭載されて、先行車などの対象物までの距離を検出する測距装置の性能低下を検出する装置に関する。【解決手段】レーザレーダ1は、スキャンニング式のレーザレーダである。レーダー処理装置2は、レーザレーダー1で走査した結果から物体を抽出する。カメラ3は、CCDカメラであり、自車前方の状況を高速に撮像する。画像処理装置4は、撮像された映像処理し、エッジ画像の組み合わせによる特徴領域を前方車両として抽出する。外界認識装置5は、外界の状況を認識して、画像処理による物体検知結果と測距による物体検知結果とに基づいて、物体測距手段の測距性能の低下を判定する。 【選択図】図1
Claim (excerpt):
自車両前方を撮像する撮像手段と、 前記撮像手段による画像を処理して自車両前方の物体を検知する物体検知手段と、 自車両前方の物体を検知して測距する物体測距手段と、 前記物体検知手段による物体検知結果と前記物体測距手段による物体検知結果とに基づいて、前記物体測距手段の測距性能の低下を判定する測距性能判定手段とを備えることを特徴とする車両用測距性能低下検出装置。
IPC (1):
G01S17/93
FI (1):
G01S17/88 A
F-Term (10):
5J084AA01 ,  5J084AA05 ,  5J084AB01 ,  5J084AB17 ,  5J084AD01 ,  5J084AD05 ,  5J084BA11 ,  5J084CA76 ,  5J084EA17 ,  5J084EA20
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (7)
  • 測距装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-315304   Applicant:オムロン株式会社
  • 車外監視装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2001-350492   Applicant:富士重工業株式会社
  • 車両制御装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2001-217515   Applicant:株式会社日立製作所
Show all
Cited by examiner (6)
  • 車外監視装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2001-350492   Applicant:富士重工業株式会社
  • 車両制御装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2001-217515   Applicant:株式会社日立製作所
  • 車両用物体検知装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-017944   Applicant:本田技研工業株式会社
Show all

Return to Previous Page