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J-GLOBAL ID:200903019615824427
化粧料の評価方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
特許業務法人田治米国際特許事務所
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005109322
Publication number (International publication number):2006290745
Application date: Apr. 06, 2005
Publication date: Oct. 26, 2006
Summary:
【課題】任意の粉末化粧料について、それを皮膚に塗布した場合の粉っぽさ等の塗布状態を簡便に客観的数値で評価できるようにする。【解決手段】粉末化粧料を皮膚レプリカ2上に塗布してその塗布面の画像を撮り、画像のピクセル毎の光学量の標準偏差又は平均値を算出し、その算出値を用いて粉末化粧料の塗布状態を評価する。この場合、予め複数の粉末化粧料について、その塗布状態の官能評価値と、それを塗布した皮膚レプリカの画像のピクセル毎の光学量の標準偏差又は平均値との関係式を得ておき、その関係式に基づいて、前述の算出値から官能評価値を求める。【選択図】図1
Claim (excerpt):
粉末化粧料を皮膚レプリカ上に塗布してその塗布面の画像を撮り、
画像のピクセル毎の光学量の標準偏差又は平均値を用いて当該粉末化粧料の塗布状態を評価する化粧料の評価方法。
IPC (3):
A61K 8/00
, A61Q 1/02
, G01N 21/84
FI (2):
F-Term (16):
2G051AA90
, 2G051AB12
, 2G051CC20
, 2G051EA16
, 2G051EB01
, 2G051EB05
, 2G051EC01
, 2G051EC03
, 4C083AB212
, 4C083AB232
, 4C083AB242
, 4C083AB432
, 4C083AD152
, 4C083CC12
, 4C083DD17
, 4C083FF10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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標識メークアップ化粧料
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-086739
Applicant:ポーラ化成工業株式会社
Cited by examiner (3)
-
皮膚表面解析システム及び皮膚表面解析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-051195
Applicant:鐘紡株式会社
-
肌のつやの評価方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-333915
Applicant:株式会社コーセー
-
皮膚表面状態評価方法並びにその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2003-275072
Applicant:株式会社肌粧品科学開放研究所
Article cited by the Patent:
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