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J-GLOBAL ID:200903020331006072

超音波による組織変化の検出方法及び検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 北村 光司
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005276834
Publication number (International publication number):2007085949
Application date: Sep. 22, 2005
Publication date: Apr. 05, 2007
Summary:
【課題】 例えば、溶接部の組織変化、熱処理、表面改質等の組織変化を高い信頼性で明瞭に検出することの可能な超音波による組織変化の検出方法及び検出装置を提供すること。【解決手段】 試験体に探触子から超音波を送信すると共に後方散乱波を受信することにより組織変化を検出する。試験体の基準部において後方散乱波を含む基準波f1’(t)を受信する。試験体の検査部において受信した検査波g1(t)を前記基準波f1’(t)で除し又は前記検査波と前記基準波との差分を求めることにより基準化する。前記基準波及び前記検査波が時間と振幅との関数のほか、時間と周波数特性値との関数であってもよい。基準化された表示はある断面のBスコープ表示とすることができる。本発明は溶接部、熱処理、表面改質等の組織変化を検出することが可能である。【選択図】 図4
Claim (excerpt):
試験体に探触子から超音波を送信すると共に後方散乱波を受信することにより組織変化を検出する超音波による組織変化の検出方法であって、 試験体の基準部において後方散乱波を含む基準波を受信し、試験体の検査部において受信した検査波を前記基準波で除し又は前記検査波と前記基準波との差分を求めることにより基準化することを特徴とする超音波による組織変化の検出方法。
IPC (2):
G01N 29/44 ,  G01N 29/04
FI (2):
G01N29/22 501 ,  G01N29/10 505
F-Term (10):
2G047AA07 ,  2G047AB07 ,  2G047BA00 ,  2G047BC03 ,  2G047BC04 ,  2G047BC14 ,  2G047DA02 ,  2G047EA10 ,  2G047GG33 ,  2G047GG38
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (15)
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