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J-GLOBAL ID：200903020590675381

イオントラップ質量分析装置

Inventor： 馬場 崇 ,  和氣 泉
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高橋 明夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996172023
Publication number (International publication number)：1998021871
Application date： Jul. 02, 1996
Publication date： Jan. 23, 1998
Summary：

【要約】【課題】 質量分析装置に関し、線形イオントラップ用いて高感度高分解能分析法を実現すること。【解決手段】 高周波四重極線形イオントラップと、その中心軸方向に調和ポテンシャルを形成するための手段と、このポテンシャル内部でイオンを共鳴振動させるための交流電圧印加手段と、電極構造から排出されてきたイオンを検出するためのイオン検出器を含む装置群からなる。

Claim (excerpt)：

線形イオントラップ電極構造と、該線形イオントラップ電極構造内にイオンを捕捉するための駆動電源と、前記線形イオントラップ電極構造の中心軸方向で電極構造外へのイオンの移動を抑制するために前記線形イオントラップ電極構造端部または中心軸方向の延長部に設けられた中心軸を共有する端電極、該端電極に所定の静電圧を与える電源、前記線形イオントラップ電極構造に試料をイオン化して導入するイオン化手段と、前記線形イオントラップ電極構造内でイオンを共鳴振動させ電極構造外に排出するための手段と、該排出されたイオンを検出するイオン検出手段とからなるイオントラップ質量分析装置において、前記線形イオントラップ電極構造から質量選択しながらイオンを排出させる際、前記端電極の持つ静電圧の影響を除去する手段を付加したことを特徴とする質量分析装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• イオントラップ式質量分析システム及び方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-124918   Applicant：フィニガンコーポレイション
• 特開昭63-276863