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J-GLOBAL ID:200903020825491003

材料試験機

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長門 侃二
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999291226
Publication number (International publication number):2001108586
Application date: Oct. 13, 1999
Publication date: Apr. 20, 2001
Summary:
【要約】【課題】 電子デバイス等の微小構造物からなる供試体にマイクロオーダの変位を加えながら、その異種材接合構造等の強度を高精度に計測することのできる簡易な構成の材料試験機を提供する。【解決手段】 供試体Sの下部を固定した下部供試体固定ブロック60を支持するテーブル10を基台1上に設けると共に、供試体の上部を固定した上部供試体固定ブロック70を支持するブロック支持体20をテーブルに対峙させて水平方向に移動自在に前記基台に設ける。そしてブロック支持体に荷重を加えて変位させる荷重機構30をブロック支持体の移動方向の軸線上の一側部に設け、また前記ブロック支持体の移動方向の他側部には、ブロック支持体に上記荷重とは逆向きの一定荷重を与える予荷重機構40を設ける。
Claim (excerpt):
供試体の上部と下部との間に横方向の変位を加えて該供試体の強度を試験する材料試験機であって、基台上に設けられて、前記供試体の下部を固定した下部供試体固定ブロックを支持するテーブルと、前記基台に支持されて上記テーブルに対峙して該テーブルの上面に沿って移動自在に設けられ、前記供試体の上部を固定した上部供試体固定ブロックを支持するブロック支持体と、前記基台に支持されて上記ブロック支持体の移動方向の軸線上に設けられ、該ブロック支持体の一側部に連結されて前記ブロック支持体に移動変位を生起する荷重を加える荷重機構と、前記基台に支持されて前記ブロック支持体の移動方向の軸線上に設けられ、該ブロック支持体の他側部に連結されて前記ブロック支持体に上記荷重とは逆向きの一定荷重を与える予荷重機構とを具備したことを特徴とする材料試験機。
F-Term (14):
2G061AB05 ,  2G061AB07 ,  2G061AB08 ,  2G061AC03 ,  2G061AC04 ,  2G061CB00 ,  2G061CB16 ,  2G061CB18 ,  2G061DA02 ,  2G061DA08 ,  2G061EA01 ,  2G061EA02 ,  2G061EB05 ,  2G061EB06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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